OCI-V是一款快速檢測(cè)光學(xué)器件損耗、色散和偏振等相關(guān)參數(shù)的光矢量分析系統(tǒng)。其原理是采用線性掃頻光源對(duì)待測(cè)器件進(jìn)行掃描,并結(jié)合相干檢測(cè)技術(shù)獲取待測(cè)器件的瓊斯矩陣,進(jìn)而獲得器件插損、色散、偏振相關(guān)損耗、偏振模色散等光學(xué)參數(shù)。該系統(tǒng)采用*的光路設(shè)計(jì)以及*算法,實(shí)現(xiàn)智能校準(zhǔn),操作簡(jiǎn)單,極大節(jié)省測(cè)試時(shí)間。
產(chǎn)品特點(diǎn):
自校準(zhǔn)
測(cè)量長(zhǎng)度:200m
波段:C+L、O波段(可選)
1秒內(nèi)測(cè)量多種光學(xué)參數(shù)
主要應(yīng)用:
平面波導(dǎo)器件
平面波導(dǎo)器件
硅光器件
光纖器件
波長(zhǎng)可調(diào)器件、放大器、濾波器
測(cè)量參數(shù):
偏振相關(guān)損耗PDL
偏振模色散PMD
插損IL
群延時(shí)GD
色散CD
瓊斯矩陣參數(shù)
光學(xué)相位
參數(shù):