OCI-T光學(xué)故障測量儀具有功能齊全、性價比高等特點(diǎn),可實(shí)現(xiàn)從器件到光學(xué)鏈路全范圍的精確插損、回?fù)p、長度測量。長度測量范圍為10m,精度可達(dá)毫米量級,空間分辨率為20μm。非常適用于定量分析,品質(zhì)監(jiān)測及故障診斷。
產(chǎn)品特點(diǎn):
空間分辨率:20μm
測量長度:20m
中心波長:1550nm
插損、回?fù)p分析
主要應(yīng)用:
無源器件插損、回?fù)p測量
硅光芯片插損、回?fù)p測量
平面波導(dǎo)器件測試
光學(xué)鏈路分析、診斷
參數(shù):
備注: