金相顯微鏡 BX51M-IR
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- 公司名稱昆山華乃爾精密儀器有限公司
- 品 牌
- 型 號
- 所 在 地
- 廠商性質生產廠家
- 更新時間 2022-01-28
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BX51IR顯微鏡可對裸眼不可見的區(qū)域進行無損的檢查和分析,以及近紅外觀察特化的顯微鏡。能對半導體晶片內部和集成電路組件背面進行無損的CPS bumps觀察。
金相顯微鏡的詳細介紹
奧林巴斯科研級正置系統(tǒng)顯微鏡 BX51/BX51M-IR
● 近紅外外透射反射觀察用顯微鏡
● 5X到10X紅外鏡頭,像差校正本涵蓋從可見光到近紅外整個波段
● 晶圓,化合物半導體的內部,封裝芯片內部以及CSP bump觀察適宜
主要特點:
1、UIS無限遠校正光學系統(tǒng),提供出色的圖像質量
2、人機工程學的進一步改善,使操作更為舒適
3、多種高度功能化的附件,能滿足各種檢驗需要
BX51M-IR主要技術規(guī)格
BX51M-IR和BX51 這兩款顯微鏡鏡體相同,帶有同樣的反射照明裝置,可對半導體內部實行近紅外觀察,同樣可對封裝芯片內部和CSPbump進行觀測。