JVL系列光學(xué)影像測(cè)量?jī)x
能高效地檢測(cè)各種形狀復(fù)雜工件的輪廓和表面形狀尺寸、角度及位置，特別是精密零部件的微觀檢測(cè)與質(zhì)量控制。本產(chǎn)品適用于產(chǎn)品開發(fā)、逆向工程、品質(zhì)檢測(cè)等領(lǐng)域，如鐘表零件、電子接插件、五金沖壓件、彈簧、線路板等。
JVL系列光學(xué)影像測(cè)量?jī)x 特點(diǎn)：
OVM Lite簡(jiǎn)易版影像測(cè)量軟件，易學(xué)易用；
高硬度、高精密、不易變形的花崗石底座及立柱，穩(wěn)定、耐用；
底光和表面光采用可調(diào)式冷光源（LED），性能穩(wěn)定，方便操作；
測(cè)量過程中可連續(xù)變倍，使操作更快捷；
X、Y軸均采用滑塊和導(dǎo)軌結(jié)構(gòu)，減小測(cè)量誤差，保證測(cè)量精度；
具備圖文報(bào)表輸出功能，可以輕松地得到檢測(cè)結(jié)果。
JVL系列光學(xué)影像測(cè)量?jī)x 技術(shù)參數(shù)：
| 型號(hào) | JVL2010 | JVL3020 |
| 量測(cè)行程(X/Y) (mm) | 200×100×100 | 300×200×200 |
| 全機(jī)尺寸（mm） | 1000×650×1650 | |
| 機(jī)臺(tái)承重kg | 30 | |
| 操作方式 | 手動(dòng)（可切換快速移動(dòng) | |
| 放大倍率 | 光學(xué)放大：0.7～4.5×；影像放大：28×~180× | |
| 電源要求 | 110V—220V±10% 50/60HZ | |
| 光學(xué)尺解析度 | 0.001mm | |
| 線性精度（X/Y） | (3+L/200)μm | |
| 量測(cè)精度 | X和Y軸：±2μm | |
| 重復(fù)性 | ±2μm | |
| CCD | 進(jìn)口彩色（41萬(wàn)象素SONY sensor） | |
| 測(cè)量軟件 | OVM Lite | |
| 適合環(huán)境 | 溫度：20～25℃ 濕度：50%~60% | |
| 電腦配置 | 高性能主機(jī)+17寸純平彩顯 | |
JVL系列光學(xué)影像測(cè)量?jī)x主要功能：
幾何直接點(diǎn)取測(cè)量功能，基本幾何測(cè)量，組合元素測(cè)量，形位公差評(píng)定，座標(biāo)系設(shè)定，二維圖形抄數(shù)， WORD、EXCEL及CAD格式輸入。使用鼠標(biāo)點(diǎn)取工件影像完成自動(dòng)捕捉功能，不用移動(dòng)機(jī)臺(tái)就可以完成測(cè)量,操作效率遠(yuǎn)超投影儀。
JVL系列光學(xué)影像測(cè)量?jī)x量測(cè)功能：
基本幾何測(cè)量：點(diǎn)、線、圓、弧、角度；
組合元素測(cè)量：點(diǎn)、線、圓、弧、組合測(cè)量，圓心距、圓切線、兩線中線、中心點(diǎn)、垂直距離、角平分線、兩線交點(diǎn)；
形位誤差評(píng)定：
同心度、真圓度、直線度、位置度、傾斜度；
坐標(biāo)系設(shè)定：
有原始座標(biāo)、座標(biāo)平移、座標(biāo)旋轉(zhuǎn)、三點(diǎn)軸，針對(duì)物件的圖形進(jìn)行擺正,或是重設(shè)新的座標(biāo)系都很方便。
基本幾何測(cè)量：點(diǎn)、線、圓、弧、角度；
組合元素測(cè)量：點(diǎn)、線、圓、弧、組合測(cè)量，圓心距、圓切線、兩線中線、中心點(diǎn)、垂直距離、角平分線、兩線交點(diǎn)；
形位誤差評(píng)定：
同心度、真圓度、直線度、位置度、傾斜度；
坐標(biāo)系設(shè)定：
有原始座標(biāo)、座標(biāo)平移、座標(biāo)旋轉(zhuǎn)、三點(diǎn)軸，針對(duì)物件的圖形進(jìn)行擺正,或是重設(shè)新的座標(biāo)系都很方便。
測(cè)量數(shù)據(jù)可輸入通用的辦公軟件進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，如WORD、EXCEL格式，并制作成檢驗(yàn)報(bào)表打印出來(lái)。
JVL系列光學(xué)影像測(cè)量?jī)x注意事項(xiàng)：
