顯微鏡顆粒分析系統(tǒng)

 PLD-MPCS2.0系列顯微鏡顆粒分析系統(tǒng)是應用在汽車零部件、航空航天、液壓潤滑行業(yè)顆粒度檢測的專業(yè)性分析測試儀器，具有專業(yè)性強，分析性能優(yōu)異、標準模塊多、測量項目全等功能，測定結果可追溯等優(yōu)勢。

普勒新世紀實驗按照普洛帝分析儀器事業(yè)部的規(guī)劃，于2001年推向市場的成熟系統(tǒng)儀器；

觀察顆粒形貌；

辨別顆粒材料性質

分析粒度分布、數(shù)量、大小、平均長徑比以及長徑分布等；

直觀、形象、準確、測試范圍寬以及自動識別、自動統(tǒng)計、自動標定等特點；

正偏光顯微測試可以準確判別顆粒的金屬非金屬特性；

避免激光法的產品缺陷，擴展檢測范圍；

現(xiàn)實NAS、ISO等標準方法的認可；

屬于科研級別的新型的粒度測試手段；

系統(tǒng)組成

該系統(tǒng)為一種圖像法粒度分布測試以及顆粒型貌分析等多功能顆粒分析系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括：

正置式偏振光光學顯微鏡

數(shù)字500萬級別以上的CCD攝像頭

全自動0.1微米級別的載物臺

圖像處理與分析軟件

電腦和打印機

等部分組成；

將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現(xiàn)代的圖像處理技術結合的產物；

專用數(shù)字攝像機將顯微鏡的圖像拍攝及掃描；

R232接口數(shù)據(jù)傳輸方式將顆粒圖像傳輸?shù)椒治鱿到y(tǒng)；

顆粒圖像分析軟件及平臺對圖像進行處理與分析；

顯示器及打印機輸出分析結果；

系統(tǒng)優(yōu)點

檢測顆粒≥1um

自動測量并計算出單個顆粒的面積、寬度、內切圓、分布、數(shù)量、大小、平均長徑比以及長徑分布等尺寸

高精度XYZ三軸自動掃描臺，可執(zhí)行自動聚焦功能

高分辨率專用數(shù)字采集系統(tǒng)500萬級別以上CCD攝像頭

單張濾膜檢測及5μm以上顆粒的掃描時間和評價時間最小1分鐘

自動調節(jié)光強、自動聚焦、多視場自動掃描、自動采集圖像、自動顆粒統(tǒng)計分析

自動辨別金屬顆粒、非金屬顆粒

自動查詢顆粒的粒徑和數(shù)量

在硬件支持條件下軟件*升級服務

測試部件

發(fā)動機及傳動系統(tǒng) (閥體，凸輪軸，曲軸，變速箱， 車輪等部件)
液壓元件 (ABS，ESP，轉向系統(tǒng)等部件)
油路供給系統(tǒng) (閥體，管件，管路零部件等) 
電子組件

應用場合更加廣泛，航空、航天、航海、電力、石油、化工、交通、港口、冶金、機械、汽車、制造等領域進行固體顆粒污染度檢測。

參數(shù)闡述

型號：PLD-MPCS2.0~10.0

儀器性能：測試范圍: 1-500μm系統(tǒng)放大倍數(shù)：40～l000X倍

zui大分辨率：0.1μm顯微鏡誤差：0.02（不包含樣品制備因素造成的誤差）

重復性誤差：< 5%（不包含樣品制備因素造成的誤差）

數(shù)字攝像頭(CCD)：300萬像素

標尺刻度：0.1μm

分析項目：粒度分布、長徑分布、圓形度分布等

自動分割速度：< 1秒分割成功率：> 93%

軟件運行環(huán)境：Windows 2000、Windows XP

接口方式：RS232或USB方式