產品簡介:8XB正置(明暗場)芯片檢查顯微鏡廣泛應用于透明、半透明、不透明物質(如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層)等材料表面的結構、痕跡檢測,擁有很好的成像效果。
產品型號 | 8XB正置(明暗場)芯片檢查顯微鏡 | ||
主要特點 | 1、采用高分辨率、長工作距離無限光路校正系統(tǒng)物鏡成像技術。 2、拓展了物鏡的復用技術,無限遠物鏡與所有觀察法相兼容,包括明暗視野法、偏光法,并在每一觀察法中均 提供高清晰的圖像質量。 3、采用非球面Kohler照明,增加觀察亮度。 | ||
技術參數 | 1、鏡筒:傾斜30° 2、高眼點目鏡:倍率10×,視場范圍25mm 3、無限遠長工作距離明暗場物鏡:倍率5×、10×、20×、40×,數值孔徑0.10、0.25、0.40、0.60,工作距離 29.4mm、16mm、10.6mm、5.1mm 4、物鏡轉換:五孔轉換器 5、調焦機構:粗、微動同軸調焦,微動格值0.002mm,調焦范圍36mm 6、工作臺:雙層移動平臺,尺寸311mm×352mm,移動范圍250mm×250mm 7、照明:垂直照明,12V/100W鹵素燈,帶孔徑光闌和視場光闌,亮度可調節(jié) | ||
標準配件 | 1 | 目鏡筒 | 1只 |
2 | 目鏡(10×) | 1對 | |
3 | 無限遠長工作距離明暗場物鏡(5×、10×、20×、40×) | 各1只 | |
可選配件 | 1、12.5×目鏡 2、10×測微鏡(測微尺格值0.01mm) 3、無限遠長工作距離明暗場物鏡(40×、100×干) |