Formtracer表面粗糙度、輪廓形狀一體機(jī)
Formtracer SV-C3200/4500 525 系列 — 表面粗糙度和輪廓測量系統(tǒng)
通過更換檢測器，一臺機(jī)器上即能測量表面粗糙度和輪廓形狀的高精度一體型測量機(jī) ，粗糙度測試儀，同時(shí)能測量表面粗糙度和測量輪廓形狀的混合型測量機(jī) 。
產(chǎn)品特點(diǎn)
| • 高分辨力型Z1軸檢出器作為標(biāo)準(zhǔn)件提供。Z1軸的高顯示分辨力為0.0001μm(測量范圍為8μm時(shí))。 | |
| • X軸內(nèi)置高精度玻璃光柵尺，粗糙度儀 三豐，直接讀取X軸移動(dòng)距離，在高精度精準(zhǔn)定位下，完成間距參數(shù)的評價(jià)。 | |
| • 檢出器測力有4mN和0.75mN可選。 | |
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| •Z1軸(檢出器)上配有高精度弧形光柵尺和新型測臂。高精度弧形光柵尺能直接讀取測針的弧形軌跡，以實(shí)現(xiàn)高精度和高分辨力。與傳統(tǒng)型號相比，寧波粗糙度儀，新測臂使Z1軸測量范圍增大了10mm 同時(shí)減少了工件的干擾。測臂安裝部采用了磁性鏈接件，單此接觸就能完成測臂的裝卸，東京精密粗糙度儀，提高了易用性。 | • 專為SV-C-4500系列增加了以下兩大特性作為輪廓測量系統(tǒng)的功能。 裝配雙錐面測針，面粗糙度儀，實(shí)現(xiàn)垂直方向(上/下)連續(xù)測量，印刷表面粗糙度儀，所獲取的數(shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)簡單分析以往難以測量的內(nèi)螺紋有效直徑。測力可在FORMTRACEPAK軟件中設(shè)置。無需調(diào)整配重。 |
| •的表面粗糙度/輪廓FORMTRACEPAK分析程序，美國粗糙度儀，通過簡單的操作就能進(jìn)行高級分析并即刻輸出結(jié)果。 | |
| • 表面粗糙度測試儀和輪廓測量儀結(jié)合在一起，節(jié)省安裝空間。 | |
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| • 測臂安裝為一鍵式裝卸 (此項(xiàng)權(quán)在日本受理中) 測臂安裝部采用了磁性連接件，粗糙度儀 進(jìn)口，實(shí)現(xiàn)了快速更換。此外，三豐粗糙度儀測針，裝卸部內(nèi)置了安全結(jié)構(gòu)。 | •繁瑣的校正也可以上下兩面連續(xù)一次性完成(此項(xiàng)權(quán)在日本受理中) SV-C4500 系列使用專業(yè)校正規(guī)(標(biāo)配附件)，三豐表面粗糙度儀，通過改進(jìn)使得上下兩方附帶從動(dòng)件的上下圓錐測針能簡便易行地進(jìn)行校正。Z1 軸增益、對稱性、探針半徑等繁瑣的校正工作一次便可完成。 |
產(chǎn)品規(guī)格
| 貨號 | SV-C3200S4 | SV-C3200H4 | SV-C3200W4 | SV-C3200S8 | SV-C3200H8 | SV-C3200W8 | |
| SV-C4500S4 | SV-C4500H4 | SV-C4500W4 | SV-C4500S8 | SV-C4500H8 | SV-C4500W8 | ||
| 測量表面粗糙度時(shí) | |||||||
| 測量范圍 | X 軸 (驅(qū)動(dòng)部) | 100mm | 200mm | ||||
| Z1 軸 (檢出器) | 800μm/80μm/8μm | ||||||
| 直線度 | (0.05+L/1000) μm L: 驅(qū)動(dòng)長度 (mm) | 0.5μm/200mm | |||||
| 分辨力 | Z1軸（檢出器） | 0.01μm(800μm), 0.001μm(80μm), 0.0001μm(8μm) | |||||
| 測力 | 0.75mN (機(jī)身代碼末尾帶 “-1”的型號) 4mN (機(jī)身代碼末尾帶“-2”的型號) | ||||||
| 測針針尖形狀 | 60º, 2μmR (機(jī)身代碼末尾帶 “-1”的型號) 90º, 5μmR (機(jī)身代碼末尾帶 “-2”的型號) | ||||||
| 對應(yīng)尺寸 | JIS1982/ JIS1994/ JIS2001/ ISO1997/ ANSI/ VDA | ||||||
| 評價(jià)參數(shù) | Pa, Pq, Psk, Pku, Pp, Pv, Pz, Pt, Pc, PSm, P q, Pmr(C), Pmr, P&c, Ra, Rq, Rsk, Rku, Rp, Rv, Rz, Rt, Rc, RSm, R q, Rmr(C), Rmr, R c, Wa, Wq, Wsk, Wku, Wp, Wv, Wz, Wt, Wc, WSm, W q, Wmr(C), Wmr, W c, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, Rx, AR, R, Wx, AW, W, Wte, Ry, RyDIN, RzDIN, R3y, R3z, S, HSC, Lo, Ir, a, a, q, Vo, Htp, NR, NCRX, CPM, SR, SAR, NW, SW, SAW | ||||||
| 評價(jià)輪廓 | 原始輪廓、粗糙度輪廓、濾波波紋輪廓、波紋輪廓、滾動(dòng)圓波形原始輪廓、滾動(dòng)圓波形 輪廓、包絡(luò)殘余線、DF 輪廓 (DIN4776 / ISO13565-1)、表面粗糙度MOTIF (包絡(luò)波紋輪廓在評 價(jià)MOTIF 時(shí)顯示) | ||||||
| 分析圖 | 負(fù)荷曲線、振幅分布曲線、功率譜、自相關(guān)、Walsh 功率譜、 Walsh 自相關(guān)、分布、 傾斜角分布、參數(shù)分布(磨損量、重疊在輪廓分析可以用于面積等的原始分析) | ||||||
| 曲線補(bǔ)償 | 小平方直線、R 面補(bǔ)償、橢圓補(bǔ)償、拋物線補(bǔ)償、雙曲線補(bǔ)償、二次曲線補(bǔ)償、多項(xiàng)式 補(bǔ)償(自動(dòng)或任意2~7 次)、無補(bǔ)償 | ||||||
| 濾波器 | 高斯濾波器, 2CRPC75, 2CRPC50, 2CR75, 2CR50, 魯棒樣條濾波器 | ||||||
| 輪廓測量 | |||||||
| 測量范圍 | X軸（驅(qū)動(dòng)部） | 100mm | 200mm | ||||
| Z1軸（檢出器） | 60mm (測臂水平位置±30mm) | ||||||
| 直線度 | 0.8μm/100mm | 2μm/200mm | |||||
| 精度 | X軸（驅(qū)動(dòng)部） | ±(0.8+0.01L)μm L: 驅(qū)動(dòng)長度 (mm) | ±(0.8+0.02L)μm L = 驅(qū)動(dòng)長度 (mm) | ||||
| Z1軸（檢出器） | SV-C3200 系列: ±(1.6+|2H|/100)μm, SV-C4500 系列: ±(0.8+|2H|/100)μm H: 水平位置上的測量高度 (mm) | ||||||
| 分辨力 | X軸（驅(qū)動(dòng)部） | 0.05 μm | |||||
| Z1軸（檢出器） | SV-C3200 系列: 0.04μm, SV-C4500 系列: 0.02μm | ||||||
| Z2軸（立性） | 1 μm | ||||||
| 測力 | SV-C3200 系列: 30mN (可調(diào)使用重量) SV-C4500 系列: 10, 20, 30, 40, 50mN (根據(jù)軟件轉(zhuǎn)換) | ||||||
| 側(cè)頭方向 | SV-C3200 系列: 垂直方向 (向上/ 向下單獨(dú)測量) SV-C4500 系列: 垂直方向 (向上/ 向根據(jù)配重調(diào)整) | ||||||
| 通用時(shí) | |||||||
| Z2軸 (立柱) 移動(dòng)量 | 300mm | 500mm | 300mm | 500mm | |||
| X 軸傾斜角度 | ±45º | ||||||
| 驅(qū)動(dòng)速度 | X 軸0 | 0 - 80mm/s 外加手動(dòng) | |||||
| Z2 軸 (立柱) | 0 - 30mm/s 外加手動(dòng) | ||||||
| 測量速度 | 0.02 - 5mm/s | ||||||
