殘余奧氏體分析儀能檢測鋼鐵材料中殘余應(yīng)力也能檢測殘余奧氏體含量。當(dāng)X射線照射鐵素體和奧氏體時會產(chǎn)生衍射，其衍射峰的強(qiáng)度與各相體積分?jǐn)?shù)成正比，因此通過各衍射峰的強(qiáng)度對比可以分析計算出殘余奧氏體的百分含量。Xstress 殘余應(yīng)力分析儀采用四峰法自動測量殘余奧氏體含量，精度優(yōu)于1%。相比較于傳統(tǒng)的金相法等手段，四峰法具有無損、快速和精確等特性。

殘余奧氏體分析儀使用X射線衍射法來測量殘余應(yīng)力和殘余奧氏體，適用于所有多晶體材料（包括陶瓷）。

產(chǎn)品特點：

具有自動校準(zhǔn)功能，方便操作

自動對焦功能，可以根據(jù)物體距離自動調(diào)節(jié)

激光定位：保證了測量的準(zhǔn)確性

設(shè)備重量輕，方便攜帶

測角儀有效的避免了探臂式結(jié)構(gòu)的干擾現(xiàn)象

技術(shù)規(guī)格：

主控單元

可自由調(diào)整。超緊湊設(shè)計

包括

-電源

-電子部件和固件控制單元

-高壓發(fā)生器

-自循環(huán)液體冷卻系統(tǒng)，不需外部供水

-確保安全所需的所有互鎖裝置

殘余奧氏體測量

實驗室精度

不需切割試樣

測角儀

測角儀安裝在一個帶有磁座的三角架上。

-傾角：可編程-60°~ +60°(標(biāo)準(zhǔn))

-搖擺：可編程0°~ ±6°

探測器

在?幾何系統(tǒng)的入射線兩側(cè)對稱安裝了高精密度的MOS線性成像探測器

角精度：0.014°-0.057°象素

軟件

操作系統(tǒng)：Windows。