日立研發(fā)推出自動對焦鍍層膜厚儀FT150這款測厚儀減輕了工作負擔(dān)，不同于以往的儀器有太多繁瑣的步驟，這款膜厚儀具有自動定焦功能。膜厚儀采用新FP法，再滅有標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的情況下也能測量。（支持階梯測量）進一步提高波峰分離能力，測量精度更高。
日立研發(fā)推出自動對焦鍍層膜厚儀FT150與以往的鍍層厚度測量儀相同，適用于各種應(yīng)用程序，同時通過增加新功能以提高可操作性和測量性能，從而大幅縮短從準(zhǔn)備樣品達完成所以所以處理的時間。
FT150膜厚儀采用新功能，以提高可操作性。可從整個樣品（大250mm*200mm)的廣域圖像中，一鍵制定測量位置。可通過與以前的狹域圖像進行聯(lián)動，以精確位置。多點測量的定位性能得到大幅度提升。
FT150膜厚儀自動對焦系統(tǒng)，縮短對焦時間，對于存在階梯或高度差的樣品，可在3秒內(nèi)自動調(diào)節(jié)攝像頭的焦點（自動對焦），自動將光源移動至位置（自動接近）。（適用于80mm以內(nèi)的階梯或高度差）。對于存在階梯或高度差的樣品、不更改條件設(shè)置的情況下進行測量。
FT150膜厚儀與Strata920膜厚儀的區(qū)別：1、FT150膜厚儀有2個相機，Strata920膜厚儀只有一個相機，2、FT150膜厚儀無需繁瑣操作步驟。如您公司需要測量微精密儀器，那請選擇FT150膜厚儀。
