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激光光束分析儀

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公司名稱上海統(tǒng)彩精密儀器有限公司
品牌
型號(hào)MicroPhase
所在地上海市
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間 2017-08-11
訪問(wèn)次數(shù)994

產(chǎn)品標(biāo)簽:

激光光束及波前分析儀激光光束分析儀激光分析儀

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公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

?上海統(tǒng)彩精密儀器有限公司是一家專業(yè)代理銷售及技術(shù)服務(wù)為一體的專業(yè)化公司，代理銷售多個(gè)*的精密測(cè)量?jī)x器、檢測(cè)專業(yè)設(shè)備，包括SPECTRO MAXx直讀光譜儀LTF意大利投影儀英國(guó)Ablink三坐標(biāo)TC系列影像測(cè)量?jī)x英國(guó)球徑儀自準(zhǔn)之儀等精密測(cè)量檢測(cè)儀器;公司銷售的相關(guān)產(chǎn)品種類多達(dá)上萬(wàn)種，并提供相應(yīng)的技術(shù)服務(wù)。擁有一批*的科技人員，與此同時(shí)建立了一支全面的技術(shù)服務(wù)隊(duì)伍。

?我們根據(jù)用戶的特點(diǎn)及實(shí)際使用要求推出規(guī)劃、設(shè)備配置、設(shè)備按裝、人員教育等售前、售中、售后一條龍服務(wù)，為用戶提供了設(shè)備及服務(wù)。我公司所銷售精密檢測(cè)設(shè)備為個(gè)制造業(yè)的檢測(cè)提供高標(biāo)準(zhǔn)*、在提高產(chǎn)品加工質(zhì)量、效率、減少成本方面取得了良好的效果！

?我公司所銷售的*(德國(guó)SPECTRO、日本三豐、瑞士TESA、英國(guó)Aberlink、德國(guó)VGS、英國(guó) STARETT、美國(guó)Cimcore等)均為高精度、高品質(zhì)、高速度、高省力的測(cè)量檢測(cè)設(shè)備，所售產(chǎn)品均已通過(guò)ISO認(rèn)證。

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品名：激光光束及波前分析儀激光光束分析儀激光分析儀
產(chǎn)品型號(hào)：DWC
產(chǎn)地:法國(guó)
品牌:PhaseView

激光光束分析儀產(chǎn)品信息

激光光束及波前分析在制造、醫(yī)療、軍事以及科研等領(lǐng)域扮演著重要的角色，應(yīng)用方向包括激光焊接、激光聚焦和激光通訊等。在這些應(yīng)用中，激光束型信息可以通過(guò)評(píng)估光束寬度的瞬時(shí)形貌變化以及光束中心點(diǎn)的變化獲得或生成。

對(duì)于激光束型和波前的傳統(tǒng)測(cè)量方法包括：Shack-Hartmann探測(cè)器、CCD或CMOS能量探測(cè)、掃描狹縫、針孔和刀口等。但上述方法皆受激光器工作方式（脈沖或連續(xù)）、能量、波長(zhǎng)等參數(shù)的影響和限制。比如頻率低于1kHz的脈沖激光可以通過(guò)狹縫掃描的方法測(cè)量而刀口切割的方法只能用于連續(xù)光束的測(cè)量。而在測(cè)量重要的光束傳輸參數(shù) M² 時(shí)，傳統(tǒng)的方法必須花費(fèi)大量的時(shí)間和精力用于沿光軸搭建和移動(dòng)探測(cè)器逐點(diǎn)測(cè)量。而且這些還只是通過(guò)測(cè)量光強(qiáng)來(lái)分析光束的能量分布，對(duì)于光束非常重要的波前信息還需要另外使用Shack-Hartmann探測(cè)器測(cè)量。而Shack-Hartmann探測(cè)器在進(jìn)行波前測(cè)量時(shí)只能達(dá)到大約30 X 30的測(cè)量采集點(diǎn)，測(cè)量精度較低。綜上所述，通過(guò)傳統(tǒng)方法對(duì)激光光束進(jìn)行光強(qiáng)和波前的全面分析時(shí)，需要一系列的儀器進(jìn)行大量測(cè)量。

相比傳統(tǒng)的激光光束測(cè)量?jī)x器，基于DWC技術(shù)的GetLase激光光束測(cè)量?jī)x具有如下特點(diǎn)：

1. 可同時(shí)進(jìn)行光強(qiáng)和波前測(cè)量

2. 測(cè)量M²時(shí)無(wú)需移動(dòng)任何組件

3. 波前測(cè)量采集點(diǎn)達(dá)500 X 500以上

4. 可進(jìn)行激光光束的傳輸分析：任意焦面的能量分布

5. 可進(jìn)行包括PSF、MTF等重要參數(shù)的測(cè)量

6. 可同時(shí)應(yīng)用于脈沖（Pulsed）和連續(xù)（CW）激光器

7. 可應(yīng)用于UV、VIS、NIR和LWIR各波段

8. 對(duì)于激光光束的實(shí)時(shí)監(jiān)控，可實(shí)時(shí)顯示光強(qiáng)、波前、PSF

Laser Beam & Wavefront Profiling ● Beam Propagation Analysis ● Beam Shaping & Beam Monitoring

激光光束&波前分析●光束傳輸分析●光束束型&光束監(jiān)測(cè)

DWC&GetLase 激光光束及波前分析儀

1.Laser Beam & Wavefront Profiling光束波前分析

基于至少500 X 500分辨率的測(cè)量采集點(diǎn)，高動(dòng)態(tài)范圍（±1500λ@633nm），以及實(shí)時(shí)的波前分析能力（25Hz視頻采集率），DWC&GetLase是非常理想的光束分析儀器。分析軟件可實(shí)時(shí)輸出波前的3D繪圖、梯度以及條紋度等。光束空間特性可溯源至ISO 13694標(biāo)準(zhǔn)，M²可溯源至ISO 11146標(biāo)準(zhǔn)。光束直徑測(cè)量精度優(yōu)于2%，M²測(cè)量精度優(yōu)于4%。

2.Beam Propagation Analysis 光束傳輸分析

在光束傳輸方向的多個(gè)位置多光束傳輸進(jìn)行詳細(xì)測(cè)量和分析。無(wú)需移動(dòng)位置，光束能量的相關(guān)特性可由系列虛擬位置面計(jì)算得出。可實(shí)時(shí)監(jiān)控光束質(zhì)量。

3. Beam Shaping & Beam Monitoring 光束修整和監(jiān)控

可精確進(jìn)行光束監(jiān)控&束型修整——同時(shí)包括光強(qiáng)和相位兩方面——通過(guò)與相位空間光路模塊（SLM’s），變形鏡（DM’s）或者其他光束修整和成型設(shè)備配合使用。

儀器技術(shù)指標(biāo)：

入瞳：5.9 X 3.1mm Z向分離：17.5mm

測(cè)量采集點(diǎn)：500 X 500

精度：＜0.01λ

靈敏度：＜0.005λ

重復(fù)性：＜0.01λrms

動(dòng)態(tài)范圍：500λ 采集率：zui大15Hz

M²精度：±4% M²重復(fù)性：＜2%