無(wú)損探傷檢測(cè)通俗來(lái)說(shuō)就是利用聲、光、電和磁的特性在不破壞材料本身的前提下來(lái)檢測(cè)材料表面近表面或是內(nèi)部缺陷位置、大小、數(shù)量、性質(zhì)等相關(guān)信息，從而判定被檢測(cè)材料的技術(shù)狀態(tài)（是否合格或是剩余使用壽命等），無(wú)損檢測(cè)并不會(huì)影響材料未來(lái)的使用性能，常見的無(wú)損探傷檢測(cè)方法有以下五種。

一、超聲波探傷（UT）

脈沖反射法原理

超聲檢測(cè)可對(duì)工件內(nèi)部缺陷定位較準(zhǔn)確；對(duì)面積型缺陷敏感，靈敏度高，成本低、速度快、對(duì)人體、環(huán)境無(wú)害。但超聲波無(wú)法在在真空中傳播，及時(shí)在空氣中也容易損耗散射，因此需借助耦合劑。

二、磁粉探傷（MT）

磁粉探傷主要是對(duì)被檢測(cè)材料內(nèi)部施加磁場(chǎng)使其磁化，然后在工件表面撒上磁粉觀察磁粉分布變化進(jìn)而達(dá)到對(duì)材料缺陷分析判斷的方法。用于檢測(cè)鐵磁性工件表面或近表面間隙極窄的裂紋和目視難以看出的缺陷。

不連續(xù)處磁痕分布及漏磁場(chǎng)

磁粉探傷檢測(cè)更加直觀，但檢測(cè)對(duì)象范圍有限，只能用于檢測(cè)鐵磁性工件，且無(wú)法檢測(cè)工件內(nèi)部缺陷，檢測(cè)精確度比較低。

三、X射線探傷（RT）

X射線是一種頻率，波長(zhǎng)極短、能量很大的電磁波，它能夠穿透可見光不能穿透的物體，而且在穿透物體的同時(shí)將和物質(zhì)發(fā)生復(fù)雜的物理和化學(xué)作用，可以使原子發(fā)生電離輻射，使某些物質(zhì)產(chǎn)生反應(yīng)，如果工件局部區(qū)域存在缺陷，它將改變物體對(duì)射線的衰減，引起透射射線強(qiáng)度的變化，這樣，采用一定的檢測(cè)方法，比如利用膠片感光，來(lái)檢測(cè)透射線強(qiáng)度，就可以判斷工件中是否存在缺陷以及缺陷的位置、大小。在使用時(shí)應(yīng)穿好嚴(yán)格遵守X射線檢測(cè)操作規(guī)程。

射線照相法原理

X射線檢測(cè)也有其優(yōu)點(diǎn)但也有局限性，優(yōu)點(diǎn)就在于精準(zhǔn)成像直觀的俯視透視圖，檢測(cè)成像快，可以工件內(nèi)部進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)成像，射線可以穿透較薄的工件檢測(cè)，通過(guò)穿透射線的衰減觀察圖像的局部差異。但對(duì)于密度差異的比較小的工件而言，這種檢測(cè)方法就不適用，同時(shí)X射線對(duì)人體也有一定傷害。

四。滲透探傷（PT）

滲透檢測(cè)原理是基于液體的毛細(xì)現(xiàn)象，和固體染料在一定條件下的發(fā)光現(xiàn)象為基礎(chǔ)，進(jìn)而進(jìn)行對(duì)檢測(cè)工件表面缺陷分析判斷。在毛細(xì)作用下，經(jīng)過(guò)一定時(shí)間，滲透劑可以滲入表面開口缺陷中；去除工件表面多余的滲透劑，經(jīng)過(guò)干燥后，再在工件表面施涂吸附介質(zhì)——顯像劑，在一定光源下（紫外線光或白光），缺陷處的滲透液痕跡被顯示（黃綠色熒光或鮮艷的紅色），從而探測(cè)出缺陷的形狀及分布狀況。滲透探傷有著色滲透和熒光滲透方法，廣泛應(yīng)用于黑色和有色金屬鍛件、鑄件、焊接件、機(jī)加工件以及陶瓷、玻璃、塑料等表面缺陷的檢查。它能檢查出裂紋、冷隔、夾雜、疏松、折疊、氣孔等缺陷；但對(duì)于結(jié)構(gòu)疏松的粉末冶金零件及其他多孔性材料不適用。

滲透過(guò)程示意圖

檢測(cè)時(shí)無(wú)需大型的設(shè)備，可不用水、電。對(duì)無(wú)水源、電源、或高空作業(yè)的現(xiàn)場(chǎng)，使用攜帶式噴灌著色滲透探傷劑十分方便。形狀復(fù)雜的部件也可用滲透檢測(cè)，并一次操作就可大致做到全面檢測(cè)。工件幾何形狀對(duì)磁粉探傷影響較大，但對(duì)滲透探傷的影響很小。對(duì)因結(jié)構(gòu)、形狀、尺寸不利于實(shí)施磁化的工件，可考慮用滲透探傷代替磁粉探傷。

五、渦流探傷（ET）

渦流檢測(cè)本質(zhì)上是利用電磁感應(yīng)原理，當(dāng)載有交變電流的試驗(yàn)線圈靠近導(dǎo)體工件時(shí)， 由于線圈產(chǎn)生的交變磁場(chǎng)會(huì)使導(dǎo)體 感生出電流（即渦流）。渦流的大小、相位及流動(dòng)形式受到工件性質(zhì)（電導(dǎo)率、 磁導(dǎo)率、形狀、尺寸）及有無(wú)缺陷的影響產(chǎn)生變化，反作用于磁場(chǎng)使線圈的電壓和阻抗發(fā)生變化。因此通過(guò)儀器測(cè)出試驗(yàn)線圈電壓或阻抗的變化，就可以判斷被檢工件的性質(zhì)、狀態(tài)及有無(wú)缺陷。

渦流探傷原理圖

渦流檢測(cè)則無(wú)需接觸工件或介質(zhì)，檢測(cè)速度很快；同時(shí)可檢驗(yàn)?zāi)芨猩鷾u流的非金屬材料，如石墨等。但只能檢測(cè)導(dǎo)電材料的表面缺陷；采用穿過(guò)式線圈進(jìn)行ET時(shí)，對(duì)缺陷所處圓周上的具體位置無(wú)法判定；旋轉(zhuǎn)探頭式ET可定位，但檢測(cè)速度慢。

在選擇檢測(cè)設(shè)備時(shí)應(yīng)參考自身工件的具體情況選擇對(duì)應(yīng)的檢測(cè)方法及儀器，才能提高檢測(cè)效率，降低檢測(cè)成本。如需了解產(chǎn)品詳情可。