電池片缺角EL測試儀原理:
晶體硅太陽電池外加正向偏置電壓,電源向太陽電池注入大量非平衡載流子,電致發(fā)光依靠從擴(kuò)散區(qū)注入的大量非平衡載流子不斷地復(fù)合發(fā)光,放出光子;再利用CCD相機(jī)捕捉到這些光子,通過計(jì)算機(jī)進(jìn)行處理后顯示出來,整個的測試過程是在暗室中進(jìn)行,通過分析采集的圖像特種就能分辨出電池片和組件的潛在缺陷。
EL圖像分析
1.隱裂
硅材料的脆度較大,因此在電池生產(chǎn)強(qiáng)度決定于正向注入電流密度和少子擴(kuò)散長度過程中,很容易產(chǎn)生裂片,裂片分兩種,一種是顯裂,另一種是隱裂。前者是肉眼可直接觀察到,但后者則不行。后者在組件的制作過程中更容易產(chǎn)生碎片等問題,影響產(chǎn)能。通過EL圖就可以觀測到。
2.斷柵
印刷不良導(dǎo)致的正面銀柵線斷開,EL圖中顯示為黑線狀。這是因?yàn)闁啪€斷掉后,從busbar上注入的電流在斷柵附近的電流密度較小,致EL發(fā)光強(qiáng)度下降。
3.燒結(jié)缺陷
一般而言,燒結(jié)參數(shù)沒有優(yōu)化或設(shè)備存在問題時(shí),EL圖上會顯示網(wǎng)紋印。采取頂針式或斜坡式的網(wǎng)帶則可有效消除網(wǎng)帶問題。
4.“黑心”片
直拉單晶硅拉棒系統(tǒng)中的熱量傳輸過程對晶體缺陷的形成與生長起著決定性的作用。提高晶體的溫度梯度, 能提高晶體的生長速率, 但過大的熱應(yīng)力極易產(chǎn)生位錯。 在“黑心”片的EL圖中可以清楚地看到清晰的旋渦缺陷, 它們是點(diǎn)缺陷的聚集, 產(chǎn)生于硅棒生長時(shí)期。此種材料缺陷勢必導(dǎo)致硅的非平衡少數(shù)載流子濃度降低,降低該區(qū)域的EL發(fā)光強(qiáng)度。
5.“漏電”問題
在電池正面銀漿印刷時(shí),由于硅片表面存在劃傷,漿料進(jìn)入裂縫的pn結(jié)位置,分選的IV測試加12V反壓時(shí),直接導(dǎo)致正面pn結(jié)燒穿短路。因此,EL測試時(shí),該區(qū)域顯示為黑色。
EL在組件中的應(yīng)用
組件是由晶體硅太陽電池通過串聯(lián)或并聯(lián)的方式連接起來,因此,EL也適用于組件的質(zhì)量監(jiān)控,在組件層壓前和成品監(jiān)督,均可以使用EL抽檢組件質(zhì)量問題。通過組件的EL圖,可以看出組件內(nèi)部電池隱裂、斷柵、黑心片等問題。
全自動---電池片缺角EL測試儀設(shè)備技術(shù)參數(shù):
型號規(guī)格 | EL140S/D-A | ELS/D-A | EL830S/D-A |
有效測試面積 | 1200mmX 2100mm |
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分辨率 | 1360×1024(單) | 3032*2016(單) | 3358*2536(單) |
2720*1024(雙) | 6656*2030(雙) | 6716*2536(雙) | |
測試組件類型 | 單晶、多晶組件 | ||
相機(jī)類型 | 冷卻型CCD | ||
冷卻到達(dá)溫度 | 致冷至室溫下 20 °C | ||
可編程電源輸出電壓 | 0~80V | ||
可編程電源輸出電流 | 0~9.5A | ||
電源參數(shù) | 單相220V 10A zui大加載電壓80V,zui大加載電流 10A | ||
曝光時(shí)間 | 0—60秒可調(diào) | ||
壓縮空氣 | 0.8MP | ||
整機(jī)工作功率 | 1KW | ||
可檢測缺陷類似 | 檢測太陽能電池組件有無隱裂、碎片、虛焊、斷柵及不同轉(zhuǎn)換效率單片電池異常現(xiàn)象 |
全自動---電池片缺角EL測試儀測設(shè)備產(chǎn)品特點(diǎn)
EL全自動測試儀結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)合理,調(diào)整方便,可輕松實(shí)現(xiàn)與客戶產(chǎn)線接口。
CCD攝像機(jī)采用進(jìn)口感光芯片,成像效果優(yōu)良;并帶有制冷功能,制冷效果可達(dá)-20℃,可進(jìn)一步提升圖像質(zhì)量。攝像機(jī)分為140萬、萬、830萬像素不同規(guī)格,并可配置雙相機(jī)。
專業(yè)PC軟件,不僅可以實(shí)現(xiàn)測試流程的監(jiān)控,還允許客戶直接標(biāo)記缺陷類型,隨同測試結(jié)果一同保存。具有本地?cái)?shù)據(jù)庫可實(shí)現(xiàn)測試結(jié)果的查詢, 同時(shí)具有同客戶數(shù)據(jù)庫系統(tǒng)接口功能,可將測試結(jié)果及時(shí)上傳,也可上報(bào)設(shè)備工作情況。更多功能可由客戶的需求定制。
自動條形碼掃描功能
全自動---電池片缺角EL測試儀設(shè)備應(yīng)用范圍
該設(shè)備用于檢測太陽能電池組件有無隱裂、碎片、虛焊、斷柵及不同轉(zhuǎn)換效率單片電池異常現(xiàn)象。
半自動---電池片缺角EL測試儀設(shè)備技術(shù)參數(shù):
型號規(guī)格 | EL140S/D-M | ELS/D-M | EL830S/D-M |
有效測試面積 | 1200mmX 2100mm | ||
分辨率 | 1360×1024(單) | 3032*2016(單) | 3358*2536(單) |
| 2720*1024(雙) | 6656*2030(雙) | 6716*2536(雙) |
測試組件類型 | 單晶、多晶組件 | ||
相機(jī)類型 | 冷卻型CCD | ||
冷卻到達(dá)溫度 | 致冷至室溫下 20 °C | ||
可編程電源輸出電壓 | 0~80V | ||
可編程電源輸出電流 | 0~9.5A | ||
電源參數(shù) | 單相220V 10A zui大加載電壓80V,zui大加載電流 10A | ||
曝光時(shí)間 | 0—60秒可調(diào) | ||
壓縮空氣 | 0.8MP | ||
整機(jī)工作功率 | 1KW | ||
可檢測缺陷類似 | 檢測太陽能電池組件有無隱裂、碎片、虛焊、斷柵及不同轉(zhuǎn)換效率單片電池異常現(xiàn)象 |
半自動---電池片缺角EL測試儀設(shè)備產(chǎn)品特點(diǎn)
優(yōu)秀的成像質(zhì)量:140萬、萬、830萬成像質(zhì)量優(yōu)良,無噪點(diǎn)。相機(jī)帶有半導(dǎo)體制冷,zui低可達(dá)-20°C,排除熱噪聲的影響,使圖像質(zhì)量進(jìn)一步提升。
全封閉式光路設(shè)計(jì):全封閉光學(xué)系統(tǒng)和恒溫冷卻系統(tǒng)使測試環(huán)境保持在全暗室和恒溫環(huán)境下,保證了整個系統(tǒng)運(yùn)行的穩(wěn)定性;避免了因外界雜光和溫度不均造成測試成像噪點(diǎn),保證了測試的直觀性和準(zhǔn)確性
強(qiáng)大測試軟件:全中文顯示界面,可自動手動掃描圖形碼編號并按編碼進(jìn)行文件保存。可放大掃描圖像顯示細(xì)節(jié),方便判斷。
半自動---電池片缺角EL測試儀設(shè)備應(yīng)用范圍
該設(shè)備用于檢測太陽能電池組件有無隱裂、碎片、虛焊、斷柵及不同轉(zhuǎn)換效率單片電池異常現(xiàn)象。
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