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四探針電阻率測試儀

參考價	￥ 20000
訂貨量	≥1臺

具體成交價以合同協(xié)議為準

公司名稱北京百川宏宇交通設施有限公司
品牌其他品牌
型號BCD-310
所在地北京市
廠商性質生產(chǎn)廠家
更新時間 2024-09-04
訪問次數(shù)187

產(chǎn)品標簽:

四探針導電電阻測試儀四探針法粉末電導率測試儀導體粉末電阻測試儀絕緣材料高溫表面和體積電阻率測試儀四探針電阻率測試儀（單電）

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公司介紹主營產(chǎn)品

北京百川宏宇交通設施有限公司是一家技術型企業(yè)。專業(yè)從事檢測、力學、實驗室設備、環(huán)境儀器等檢測儀器研究、開發(fā)、生產(chǎn)及銷售為一體的企業(yè)。主營產(chǎn)品有過濾器完整性檢測儀，toc總有機碳分析儀，介電常數(shù)及介質損耗測試儀，電壓擊穿試驗儀，絕緣電阻測試儀等。公司擁有專業(yè)技術隊伍和營銷隊伍，產(chǎn)品質量穩(wěn)定，性價比高。本公司成立的初衷就是希望通過我們豐富的經(jīng)驗給客戶提供比產(chǎn)品本身更有價值的東西，來幫助客戶選擇儀器，必要時來指導客戶操作儀器。在這一點上百川在市場上受到廣大用戶及經(jīng)銷商的歡迎和好評。本公司所銷售的儀器，都是經(jīng)過一段時間的市場考驗后，由我們的工程師進行評估后才決定是否進行推薦銷售。所以這里每一款產(chǎn)品都是我們?yōu)槟艏氝x的。在市場競爭日趨激烈的今天，價格因素往往起到了決定性作用，但是我們堅信，只有高質的產(chǎn)品才能給客戶解決工作中實際問題，只有高質的服務才能讓客戶購買正確的檢測儀器，購買后沒有后顧之憂。本著誠信、服務、務實、創(chuàng)新的經(jīng)營理念，“提供優(yōu)質服務”，在制藥、化工、環(huán)保、科研、大學、醫(yī)學等領域開拓了廣泛的市場，贏得了廣大用戶的支持和信賴。在今后的發(fā)展中，我們將一如既往地把國內外的儀器設備介紹并提供給國內的用戶，孜孜追求，不懈努力，不斷提高服務水平，為提升用戶的檢測水平和科研水平貢獻各自的綿薄之力，與廣大用戶共同享受科技成果，在互利協(xié)作中共同進步。我們擁有充滿活力的高素質銷售隊伍和技術全面、經(jīng)驗豐富的售后服務隊伍，這既是我們公司發(fā)展的源泉，也是我們向客戶提供良好服務的保證。客戶對公司的充分信賴和鼎力支持是我們賴以發(fā)展的基礎，北京百川宏宇交通設施有限公司將與廣大用戶一起努力、一起進步！

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電子拉力機，電壓擊穿試驗儀，介電常數(shù)儀，完整性測試儀，toc總有機碳在線分析儀，四探針電阻測定儀

產(chǎn)品簡介在線詢價

產(chǎn)地	國產(chǎn)	類型	電阻測試儀

四探針電阻率測試儀本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料之電導率。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電導率單位自動選擇，BCD-310 材料電導率測試儀自動測量并根據(jù)測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成圖表和報表。

四探針電阻率測試儀產(chǎn)品信息

四探針電阻率測試儀四探針電阻率測試儀

覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試采用四探針組合雙電測量方法，液晶顯示，自動測量，自動量程，自動系數(shù)補償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出；選配：PC軟件進行數(shù)據(jù)管理和處理.

雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美國A.S.T.M標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進行雙電測分析，解決樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響.

采用四探針組合雙電測量方法，液晶顯示，自動測量，自動量程，自動系數(shù)補償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出；選配：PC軟件進行數(shù)據(jù)管理和處理.

概述：采用四端測量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，實驗室；是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的工具。可配置不同測量裝置測試不同類型材料之電阻率。液晶顯示，溫度補償功能，自動量程，自動測量電阻，電阻率，電導率數(shù)據(jù)。恒流源輸出；選配：PC軟件過程數(shù)據(jù)處理和標準電阻校準儀器，薄膜按鍵操作簡單，中文或英文兩種語言界面選擇，電位差計和電流計或數(shù)字電壓表，量程為1mVˉ100mV,分辨率為0.1%，直流輸入阻抗不小250μm的半球形或半徑為50 μm~125 μm的平的圓截面。探針(帶有彈簧及外引線)之間或探針系統(tǒng)其他部分之間的絕緣電照至少為10°Ω.探針排列和間距，四探針應以等距離直線排列，探針閥距及針突狀況應符合GB/T 552 中的規(guī)定。R=1(R +R, )…………………………(3)R2=與(R; +R，)計算試樣平均直徑D與平均操針間距S之比，由表3中查出修正因子F，也可以見GB/T11073中規(guī)定的幾何修正因子。 9.4計算幾何修正因子F，見式(4)。對于薄層厚度小于3μm的試樣，選用針尖半徑為100μm250μm的半球形探針或針尖率徑為50μm~125 pm平頭探針，針尖與試樣間壓力為0.3 Nˉ0.8Ni對于薄層厚度不小于3μ的試樣，選用針尖半徑為35μm100 pm 半球形操針，針尖與試樣間壓力不大于 0.3 N.Rr=V; R,/V=V/I,…… … R,=V,R,/V_=V,/I,-雙刀雙撐電位選擇開關。.定。歐嬌表，能指示阻值高達10°日的漏電阻，溫度針0℃-40℃，小刻度為0.1℃。光照、高頻、需動、強電磁場及溫醒度等測試環(huán)境會影響測試結果，甲醇、99.5%，干燥氮氣。測量儀器探針系統(tǒng)操針為具有45"~150°角的圓罐形破化鴨振針，針實半徑分別為35μm~100μm.100 μm…… … ………(5)電壓表輸入阻抗會引入測試誤差，硅片幾何形狀，表面粘污等會影響測試結果，R(TD-R_xF式中:計算每一測量位置的平均電阻R.，見式(3).試劑優(yōu)級純，純水，25℃時電阻率大于2MN.cm,s=號(二[R，(TD-瓦(7D羽yt ..計算每一測量位置在所測溫度時的薄層電阻(可根據(jù)薄層電阻計算出對應的電阻率并修正到23℃，具體見表4)見式(5).用干凈涂題顆子或吸筆將試樣置于樣品臺上，試樣放置的時間應足夠長，到達熱平衡時，試樣溫度為23 ℃±1℃.接通電流，令其任一方向為正向，調節(jié)電流大小見表1測量范圍電阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm方阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□電阻：1×10-5～2×105 Ω ，分辨率：1×10-6～1×102 Ω 材料尺寸(由選配測試臺決定和測試方式?jīng)Q定)直徑：A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，方測試臺直接測試方式180mm×180mm，長(高)度：測試臺直接測試方式 H≤100mm, 測量方位: 軸向、徑向均可

4-1/2 位數(shù)字電壓表：

(1)量程： 20.00mV～2000mV

(2)誤差：±0.1%讀數(shù)±2 字

數(shù)控恒流源

(1)量程：0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA，1A

(2)誤差：±0.1%讀數(shù)±2 字

所給出的某一合適值，測量并記錄所得數(shù)據(jù)，所有測試數(shù)據(jù)至少應取三位有效數(shù)字。改變電流方向，測量、記錄數(shù)據(jù)。關斷電流，搶起探針裝置，對仲裁測量，探針間距為1.59