微波器件高加速壽命偏壓老化測(cè)試系統(tǒng),
是一種用于評(píng)估微波器件在不同條件下 的性能和可靠性的測(cè)試系統(tǒng)。該系統(tǒng)通過(guò)施加高加速偏壓,模擬微波器件在實(shí) 際使用中可能遇到的高溫、高壓等惡劣環(huán)境,以加速器件的老化過(guò)程。
微波器件高加速壽命偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)
·每顆器件的Vgs獨(dú)立控制
·實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)每個(gè)試驗(yàn)器件的Id、 Ig
·控制上、下電時(shí)序
·全過(guò)程試驗(yàn)數(shù)據(jù)保存于硬盤中, 可輸出Excel
·試驗(yàn)報(bào)表和繪制全過(guò)程漏電流 IR變化曲線
微波器件高加速壽命偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
AEC-Q100 ·MIL-STD-750D ·GJB128 ·JEDEC等標(biāo)準(zhǔn)