偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)高加速老化試驗(yàn)箱
Bias-HAST高加速壽命偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯 片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速 壽命信賴性試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段，用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和 薄弱環(huán)節(jié)。測(cè)試其制品的密封性和老化性能。
偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)高加速老化試驗(yàn)箱
Bias-HAST高加速壽命偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)是將被測(cè)元件放置于一定的環(huán)境溫 度中,（環(huán)境溫度依據(jù)被測(cè)元件規(guī)格設(shè)定）給被測(cè)元件施加一定的偏置電 壓。同時(shí)控制系統(tǒng)實(shí)時(shí)檢測(cè)每個(gè)材料的漏電流，電壓，并根據(jù)預(yù)先設(shè)定， 當(dāng)被測(cè)材料實(shí)時(shí)漏電流超出設(shè)定時(shí)，自動(dòng)切斷被測(cè)材料的電壓，可以保護(hù) 被測(cè)元件不被進(jìn)一步燒毀。
偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)高加速老化試驗(yàn)箱
Bias-HAST 適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段，用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測(cè)試其制品的密封性和老化性能。
特點(diǎn)：
·每顆器件的Vgs獨(dú)立控制
·實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)每個(gè)試驗(yàn)器件的 Id、Ig
· 控制上、下電時(shí)序
· 全過程試驗(yàn)數(shù)據(jù)保存于硬盤 中，可輸出Excel
·試驗(yàn)報(bào)表和繪制全過程漏電流 IR變化曲線
·漏電流超限保護(hù)，自動(dòng)切斷測(cè) 量回路
標(biāo)準(zhǔn)：
AEC-Q100、 MIL-STD 750D、 GJB128、 JEDEC
