絕緣電阻劣化系統(tǒng)高加速壽命老化試驗箱
絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)是一種信賴性試驗設(shè)備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓,經(jīng)過長時間的測試(1~1000小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生,并記錄電阻值變化狀況,故又叫做CAF試驗,絕緣阻力電阻試驗,我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗,可進行BHAST試驗。
絕緣電阻劣化系統(tǒng)高加速壽命老化試驗箱
應(yīng)用
PCB、焊料、助焊劑、涂層材料等,GBA、DSP等,IC封裝、電容器、連接器等電子器件及材料絕緣材料吸濕特性測試評估。
絕緣電阻劣化系統(tǒng)高加速壽命老化試驗箱 特點:
高機能:采用驅(qū)動計測測試時焊接工序大幅減少
軟件設(shè)計簡單明了,直觀易操作
遠程監(jiān)控功能,可監(jiān)控試驗過程。
便利性高:構(gòu)造裝著脫落式易進行保養(yǎng)交換。可同時試驗停止等聯(lián)動裝置功能,系統(tǒng)構(gòu)成靈活。
測試自檢功能:點檢、校正方便。
設(shè)計精巧,不受場所限制,易移動。
可靠性高:配有CF卡,以防設(shè)備故障數(shù)據(jù)丟失。以UPS作為系統(tǒng)的支撐,保證試驗的安全繼續(xù)進行