測PID組件的濕熱老化箱是一種專門用于測試PID組件在濕熱環(huán)境下的老化性能的設(shè)備。它具備模擬高濕度、高溫等復(fù)雜環(huán)境條件的能力,從而能夠評估PID組件在這些條件下的穩(wěn)定性和可靠性。后方架子3層+電木板3張顯示器擺臂
測試孔10個直徑100mm
型號:AP-HX-600A
內(nèi)箱尺寸:1000*1000*600mm (W* H *D)
外型尺寸(約):1800*1400*1400mm (W* H *D)
控制器:7英寸超大觸摸AP-900智能可程序溫濕度控制器
溫度范圍:RT~+150℃ (含1KW產(chǎn)品發(fā)熱負載)
降溫速率:升溫約1℃/min(含1KW產(chǎn)品發(fā)熱負載) 降溫約3℃/min(含1KW產(chǎn)品發(fā)熱負載)
內(nèi)外箱材質(zhì):測試區(qū)內(nèi)箱不銹鋼板 ( SUS # 304 ),外箱烤漆。
壓縮機:法國泰康全封閉低噪音轉(zhuǎn)子式壓縮機或日本日立高效能全封閉壓縮機
電源要求:AC380V電源
保溫層:硬質(zhì)聚氨酯泡沫
測PID組件的濕熱老化箱需要注意的是,不同型號的PID組件和不同的應(yīng)用環(huán)境可能需要不同的測試條件和參數(shù)設(shè)置。因此應(yīng)根據(jù)具體情況進行調(diào)整和優(yōu)化。