產(chǎn)品敘述
Grain Size (晶粒大小)
- 根據(jù) ASTM E112-88及E1382定義之分析規(guī)範(fàn)標(biāo)準(zhǔn)計算晶粒度號數(shù)。
- 提供水平線、垂直線、對角線、圖，四種交叉線以節(jié)點(diǎn)偵測方式計量晶粒大小。快速的量測並計算出Grain Size 的大小，可座手動或自動量測。
- 量測數(shù)據(jù)會自動做統(tǒng)計分析，並可將量測結(jié)果可匯出至Excel報表，功能模組為中文操作介面。
多孔性金屬材料分析(Porosity of Metallic Materials)
- 可分析多孔性材料表面之孔洞率或取得孔隙大小、面積...等數(shù)據(jù)，並可製作孔隙分佈圖表。
- 分析取得之圖表數(shù)據(jù)可透過DDE模式匯出至MS Office Excel報表。
Micro Hardness Testing (硬度)
- 根據(jù)ASTM E384 定義之分析規(guī)範(fàn)標(biāo)準(zhǔn)計算微硬度值，可分析維克氏(Vickers)與羅普(Knoop)硬度。
- 可設(shè)定影像的倍率、壓痕重力等參數(shù)快速的量測並計算出Sample硬度，可做手動或自動量測。
- 量測數(shù)據(jù)會自動做統(tǒng)計分析，並可將量測結(jié)果可匯出至Excel報表，功能模組為中文操作介面。
樹枝狀支臂間距分析(Dendritic Arm Spacing)
- 依使用者定義量測起始位置，分析鋁鑄件材料上樹枝狀支臂結(jié)構(gòu)之間距。
- 分析結(jié)果可取得每一段支臂間隔距離，可依匯總之資料產(chǎn)生統(tǒng)計數(shù)據(jù)。
Sphericity (球化率)
- 根據(jù)JIS G 5502及ASTM Sphericity 定義之分析規(guī)範(fàn)標(biāo)準(zhǔn)計算球化率。
- 協(xié)助使用者測量物體的圖率(球化率)，並依定義的容許值來計算所有物體符合或超過容許值的百分比值，可設(shè)定過濾條件，將太小的雜質(zhì)過濾。
- 利用圓率、面積、型狀等參數(shù)，分析計量金相球化率。使用者可自行定義此容許值的標(biāo)準(zhǔn)。
- 量測數(shù)據(jù)會自動做統(tǒng)計分析，並可將量測結(jié)果可匯出至Excel級表，功能模組為中文操作介面。
脫碳/滲碳層量測
- 將經(jīng)過脫碳或滲碳處理之材料橫剖面做厚度量測。
- 量測可取得、最小、平均厚度之分析數(shù)據(jù)。
- 分析取得之圖表數(shù)據(jù)可透過DDE匯出至MS Office Excel 報表。
單金相、多金相分析
- 可依使用者定義，選取一至多個材質(zhì)金相之灰階選取範(fàn)圍。
- 依所選取的金相才質(zhì)類別，自動計算面積與面積百分比。
- 可應(yīng)用分析肥粒鐵(Ferrite)與波來鐵(Pearlite)相對含量，及分析鑄鐵中石墨(Graphite)相對含量。
材料塗層膜厚、厚度分析
- 利用量測工具取得某一分析目標(biāo)之厚度。
- 量測可取得、最小，平均厚度之分析數(shù)據(jù)。
- 分析取得之圖表數(shù)據(jù)可透過DDE匯出至MS Office Excel報表。
非金屬物質(zhì)含量分析 (Nonmetallic Inclusions)
- 可依使用者定義，分析氧化物(Oxides)及硫化物(Sulfides)之含量。
鏽蝕面積比分析
- 可透過濾鏡(Filter)功能將影像上光源不均的問題做均化(Flatten)處理。
- 可依使用者定義，設(shè)定鏽蝕影像灰階選取範(fàn)圍。使用選取工具框選取欲分析的鏽蝕影像區(qū)塊做分析，並取得鏽蝕面積比分析數(shù)據(jù)。
金相影像縫圖(Stitch Images)
- 可將多張依矩陣順序作拍照且邊緣重覆之金相影像。以傅立葉關(guān)聯(lián)(Fourier Correlation)模式自動將影像合併成一張完整的影像。
- 可修正影像因旋轉(zhuǎn)偏角(Rotation)或縮放比例(Scaling)造成拼圖時的誤差。
- 可選擇邊緣比對(Intensity Matching)方式或影像強(qiáng)度比對(Edge Matching)方式來合成影像拼圖。
景深合成(Extended Depth of Field)
- 此功能利用影像合成技術(shù),克服了在高倍率觀察時因景深不足,無法看到高低落差過大之金相表面問題。
- 可將多張不同對焦面之堆疊影像,製作出一張對焦都是清楚的全景深合成影像,讓您更方便做金相全貌觀察或進(jìn)階的影像量測及分析,取得更精準(zhǔn)的分析數(shù)據(jù)。
硬體系統(tǒng)規(guī)格需求
- P4 2.8GHz以上,512MB RAM, 1GB 以上可使用之硬體空間
- Microsoft Windows 2000 Pro SP4 / Windows XP Pro SP2
