8753E射頻網(wǎng)絡(luò)分析儀為滿足研制實(shí)驗(yàn)室或生產(chǎn)制造的測試需求，在速度、性能和方便使用上提供
了 的結(jié)合。8753E以其覆蓋3或6GHz頻率范圍的集成化S參數(shù)測試裝置、達(dá)110dB的動(dòng)態(tài)范圍以
及頻率掃描和功率掃描，為表征有源或無源網(wǎng)絡(luò)、元器件和子系統(tǒng)的線性和非線性特性提供了圓滿的
解決方案。所使用的新型微處理器使測量和數(shù)據(jù)傳遞速率比以往的型號快達(dá)7倍之多。 網(wǎng)絡(luò)分析儀的
特點(diǎn)是有2個(gè)獨(dú)立的測量通道，可同時(shí)測量和顯示所有4個(gè)S參數(shù)。 可以選擇用幅度、相位、群延遲、史密斯圓圖、極坐標(biāo)、駐波比或時(shí)域格式來顯示反射和傳輸參數(shù)的
任意組合。便于使用的專用功能鍵能迅速訪問各個(gè)測量功能。可以利用達(dá)4個(gè)刻度格子在高分辯率的
LCD彩色顯示器上以重疊或分離屏面的形式來觀察測量結(jié)果。為了驅(qū)動(dòng)更大的外部監(jiān)視器，以便于觀
察，增加了與VGA兼容的輸出。 較好的通用性和性能 一個(gè)集成化的合成源提供了達(dá)10mW的輸出功率（用選件011可達(dá)100mW），1Hz的
頻率分辯率和線性頻率，對數(shù)頻率，列表頻率，CW和功率掃描功能。三個(gè)調(diào)諧接收機(jī)可以在6GHz（帶
有選件006頻率擴(kuò)展）處105dB或3GHz（標(biāo)準(zhǔn)）110dB的寬動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)進(jìn)行獨(dú)立的功率測量或同時(shí)比值
測量。集成化的測試裝置可以在不使用倍頻器的情況下，測量達(dá)6GHz裝置的傳輸和反射特性。 為了在非同軸系統(tǒng)中進(jìn)行方便而 的測量，特提供了TRL＊/LRM＊1校準(zhǔn)。利用內(nèi)置適配器移去校準(zhǔn)
技術(shù)，還能實(shí)現(xiàn)對非插入式器件的高精度測量。高穩(wěn)定度的頻率基準(zhǔn)（選件1D5）提高了對高Q器件，
如表面聲波（SAW）器件、晶體諧振器或介質(zhì)諧振濾波器的頻率測量精度。為了提高配置的靈活性，
選件011取消了內(nèi)置測試裝置，以便能選擇自己所需的測試裝置。
HP8753E選件011可與HP85046A/B和85047A S參數(shù)測試裝置以及供其它特殊應(yīng)用的專用測試裝置配套使
用。用于自動(dòng)生產(chǎn)的新型選件可以刪除內(nèi)部顯示和降低儀器成本（選件1DT）。生產(chǎn)效率的提高 測試
時(shí)序功能允許一次鍵入來迅速、反復(fù)執(zhí)行復(fù)雜的任務(wù)。在時(shí)序工 作方式下，只需從面板測量一次，
分析儀便能儲存鍵入，以致無需額外編程。還可以利用測試時(shí)序經(jīng)并行或HP-IB端口對外部裝置進(jìn)行
控制。另一些生產(chǎn)率特點(diǎn)包括支持LIF和DOS格式的內(nèi)置軟盤驅(qū)動(dòng)器、非易失存儲器、串行和并行接口
，DIN鍵盤接口以及對打印輸出和文件提供時(shí)間記錄的實(shí)時(shí)時(shí)鐘。還包括極限測試、任意頻率測試和
標(biāo)記跟蹤功能。通過利用列表掃描工作方式來選擇待測試的特殊頻率以及在每個(gè)頻率范圍設(shè)置獨(dú)立的
中頻帶寬和功率電平，可以縮短測量時(shí)間。分段校準(zhǔn)和內(nèi)插誤差修正能提高分析儀已校頻率范圍的某
一區(qū)段上的矢量精度。非線性裝置的測試 為了對器件進(jìn)行更*的表征，選件002增加了諧波測量功
能。可以直接或以相對于基波的數(shù)顯示放大器的掃描二次和總諧波電平。按動(dòng)一個(gè)按鈕，即可測量達(dá)
－40的諧波。功率計(jì)校準(zhǔn)向?qū)斎牖蜉敵鲭娖矫舾械钠骷峁┓€(wěn)幅的功率。
HP 8753E自動(dòng)對436A、437B、438A、EPM-441A或EPM-442A功率計(jì)進(jìn)行控制，使在測試系統(tǒng)中任何處的
功率都調(diào)到具有功率計(jì)的精度，或?qū)?strong>網(wǎng)絡(luò)分析儀接收機(jī)校準(zhǔn)來進(jìn)行 的功率測量。為了測量混
頻器、調(diào)諧器和其它頻率轉(zhuǎn)換器件，頻率偏置工作方式允許對網(wǎng)絡(luò)分析儀獨(dú)立于接收機(jī)調(diào)諧。分析儀
很容易以固定中頻或掃描中頻測試方式完成變頻損耗、相位、群延遲和混頻器統(tǒng)調(diào)的測量。 時(shí)域分
析 利用選件010，能觀察在時(shí)域中的反射或傳輸響應(yīng)。該分析儀對頻域數(shù)據(jù)的快速傅氏逆變換進(jìn)行計(jì)
算，以顯示反射系數(shù)或傳輸系數(shù)隨時(shí)間變化的關(guān)系。兩種時(shí)域分析方法能觀察器件的階躍響應(yīng)或沖擊
響應(yīng)。定時(shí)選通可用來除去一些不希望的響應(yīng)，如接頭失配，選通結(jié)果則可在時(shí)域或頻率中顯示。
1TRL＊和LRM＊是直通—反射—傳輸線和傳輸線—反射—匹配校準(zhǔn)技術(shù)的三取樣器執(zhí)行方式。技術(shù)指
標(biāo)摘要 測試裝置 集成化的S參數(shù)測試裝置以50Ω（標(biāo)準(zhǔn)）或75Ω（選件075）提供完滿的正向和反向
測量。
