LIST磁導(dǎo)率儀特性:
使用磁導(dǎo)率計(jì)List-Magnetik Ferromaster,您可以輕鬆確定磁導(dǎo)率在1.001和1.999或1.001和5.000之間的弱磁性材料和工件的相對(duì)磁導(dǎo)率 µr。透過(guò)用探頭接觸工件並從顯示器讀取結(jié)果來(lái)測(cè)量磁導(dǎo)率,而磁導(dǎo)率或磁導(dǎo)率說(shuō)明材料的可磁化強(qiáng)度。
典型應(yīng)用包括:材料的非破壞檢測(cè),例如:不銹鋼的品質(zhì)控制、電子/離子束設(shè)備的材料選擇、機(jī)械或熱應(yīng)力引起的材料缺陷檢測(cè)。Ferromaster 可以根據(jù) ASTM A342 測(cè)試方法 4 和 EN 60404-15 程序 6 進(jìn)行符合標(biāo)準(zhǔn)的滲透率測(cè)量。
磁導(dǎo)率儀Ferromaster
- 量測(cè)範(fàn)圍: μr=1.000至1.999
- 解析度:0.001
- 歸零: 自動(dòng)
- 防水:IP65
- 以非破壞型式探測(cè)不銹鋼磁性
- 攜帶型,操作簡(jiǎn)單且快速
- 符合ASTM A342、EN 60404-15之規(guī)範(fàn)
磁導(dǎo)率儀FerroPro FP-5
- 較大的量測(cè)範(fàn)圍: μr=1.000至5.000
- 解析度:0.001
- 數(shù)據(jù)紀(jì)錄:200筆
- 防水係數(shù): IP20
- 以非破壞型式探測(cè)不銹鋼磁性
- 桌上型,USB介面可與電腦連結(jié),經(jīng)FP-5 TRANSFER傳輸儲(chǔ)存成Word或Excel檔
- 符合ASTM A342、EN 60404-15之規(guī)範(fàn)
LIST膜厚計(jì)特性:
- 利用磁感應(yīng)及渦電流原理進(jìn)行膜厚量測(cè)。
- 採(cǎi)用SMD微電子精密技術(shù)製造,符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證。
- 多組儲(chǔ)存記憶統(tǒng)計(jì)分析功能,顯示量測(cè)點(diǎn)之膜厚值、最小值、平均值與偏差量。
- RS232 輸出介面、連接印表機(jī)或個(gè)人電腦、列印統(tǒng)計(jì)圖表、上下限值和時(shí)問設(shè)定功能。
- 含有自動(dòng)單點(diǎn)歸零及多點(diǎn)(量測(cè)粗糙表面)校正裝置,即使切斷電源,校正數(shù)據(jù)仍然保存。
- 具有自動(dòng)關(guān)機(jī)及低電量提醒裝置。
掌中型膜厚計(jì)
TOP-CHECK FE/FE-B/FN/FN-B
兩用型膜厚計(jì)
- 輕巧方便適於現(xiàn)場(chǎng)量測(cè)
- 測(cè)頭可旋轉(zhuǎn)90。
- IP64防水等級(jí)
- 紅寶石探頭
量測(cè)範(fàn)圍:
- 磁性:0-5000 μm
- 非磁性:0-2000 μm
MEGA-CHECK Pocket
兩用型膜厚計(jì)
- 重複性精度高
- 單一按鈕操作方便
- 具統(tǒng)計(jì)分析功能
量測(cè)範(fàn)圍:
- 磁性:0-5000 μm
- 非磁性:0-2000 μm
手持型膜厚計(jì)
MEGA-CHECK Basic
- 可選配任何測(cè)頭
- 測(cè)量範(fàn)圍:視測(cè)頭而定
MEGA-CHECK Profi
- 可選配任何測(cè)頭
- 測(cè)量範(fàn)圍:視測(cè)頭而定
- 可記憶 10,000點(diǎn)資料
- 可做統(tǒng)計(jì)分析
- 能儲(chǔ)存3組校正值
MEGA-CHECK Master
- 可選配任何測(cè)頭
- 測(cè)量範(fàn)圍:視測(cè)頭而定
- 可記憶 10,000點(diǎn)資料及可分成100組
- 可做統(tǒng)計(jì)分析
- 能儲(chǔ)存3組校正值
- 能做掃描量測(cè)
型號(hào) | 測(cè)頭 | 測(cè)量範(fàn)圍 |
PF-5 | 磁感應(yīng)測(cè)頭 | 0-5000 um |
PF-5S | 磁感應(yīng)測(cè)頭 | 0-5000 um |
PFN-52D | 兩用型測(cè)頭 | 磁性:0-5000 um |
PFN-52DS | 兩用型測(cè)頭 | 磁性:0-5000 um |
PF-1S | 磁感應(yīng)測(cè)頭 | 0-1000 um |
PF-3T | 磁感應(yīng)測(cè)頭 | 0-3000 um |
若您對(duì)我司所代理之LIST膜厚計(jì)有興趣,或來(lái)信詢問