半導(dǎo)體分立器件根據(jù)基材不同,可分為不同類型。以硅基半導(dǎo)體為基材時(shí),半導(dǎo)體分立器件主要包括二極管(Diode)、三極管(BJT)、晶閘管(SCR)、場(chǎng)效應(yīng)晶體管(MOSFET)、絕緣柵雙極型晶體管(IGBT)等;以寬禁帶材料半導(dǎo)體為基材時(shí),半導(dǎo)體分立器件主要包括:SiC.GaN半導(dǎo)體功率器件。半導(dǎo)體參數(shù)分析儀支持高電壓+大電流認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表官&網(wǎng)咨詢
接下來我們重點(diǎn)介紹應(yīng)用Z廣泛的二極管、三極管及MOS管的特性及其電性能測(cè)試要點(diǎn)。
1、二極管
二極管是一種使用半導(dǎo)體材料制作而成的單向?qū)щ娦栽骷?產(chǎn)品結(jié)構(gòu)一般為單個(gè)PN結(jié)結(jié)構(gòu),只允許電流從單一方向流過。發(fā)展至今,已陸續(xù)發(fā)展出整流二極管、肖特基二極管、快恢復(fù)二極管、PIN二極管、光電二極管等,具有安全可靠等特性。
器件特性:結(jié)壓降、不能變,伏安特性要會(huì)看,正阻強(qiáng)大反阻軟,測(cè)量全憑它來管。
測(cè)試要點(diǎn):正向壓降測(cè)試(VF)、反向擊穿電壓測(cè)試(VR)、C-V特性測(cè)試
2、三極管
三極管是在一塊半導(dǎo)體基片上制作兩個(gè)相距很近的PN結(jié),兩個(gè)PN結(jié)把整塊半導(dǎo)體分成三部分,中間部分是基區(qū),兩側(cè)部分是發(fā)射區(qū)和集電區(qū)。
器件特性:三極管,不簡(jiǎn)單,幾個(gè)特性要記全,輸入輸出有曲線,各自不同有深淺。
測(cè)試要點(diǎn):輸入/輸出特性測(cè)試、極間反向電流測(cè)試、反向擊穿電壓測(cè)試(VR)、C-V特性測(cè)試
3、MOS管
MOSFET(金屬―氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管)是一種利用電場(chǎng)效應(yīng)來控制其電流大小的常見半導(dǎo)體器件,可以廣泛應(yīng)用在模擬電路和數(shù)字電路當(dāng)中。MOSFET可以由硅制作,也可以由石墨烯,碳納米管等材料制作,是材料及器件研究的熱點(diǎn)。主要參數(shù)有輸入/輸出特性曲線、閾值電壓VGs(th)、漏電流lGss、lDss,擊穿電壓VDss、低頻互導(dǎo)gm、輸出電阻RDs等。
器件特性:箭頭向里,指向N,N溝道場(chǎng)效應(yīng)管;箭頭向外,指向P,P溝道場(chǎng)效應(yīng)管。
測(cè)試要點(diǎn):輸入/輸出特性測(cè)試、閾值電壓測(cè)試VGS(th)、漏電流測(cè)試、耐壓測(cè)試、C-V測(cè)試
所以,何為電性能測(cè)試?半導(dǎo)體分立器件該如何進(jìn)行電性能測(cè)試?
半導(dǎo)體分立器件電性能測(cè)試是對(duì)待測(cè)器件施加電壓或電流,然后測(cè)試其對(duì)激勵(lì)做出的響應(yīng),通傳統(tǒng)的分立器件特性參數(shù)測(cè)試需要幾臺(tái)儀器完成,如數(shù)字萬用表、電壓源、電流源等。
實(shí)施半導(dǎo)體分立器件特性參數(shù)分析的Z佳工具之一是“五合一”數(shù)字源表(SMU),集多種功能于一體。
精準(zhǔn)、穩(wěn)定、高效的電性能測(cè)試方案可為高校科研工作者、器件測(cè)試工程師及功率模塊設(shè)計(jì)工程師提供測(cè)量所需的工具,大大提高測(cè)試效率。此外,基于核心的高精度數(shù)字源表,普賽斯還提供適當(dāng)?shù)碾娎|輔件和測(cè)試夾具,實(shí)現(xiàn)安全、可靠的測(cè)試。
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