ZEISS T-POINT接觸測頭快速可靠地測量所選擇的測量點，使其成為在物體區(qū)域內進行單點測量的解決方案，如（修剪）邊緣和規(guī)則的幾何形狀。該裝置可與傳統的測頭一起使用，測頭更換更加簡單、快速。
便攜式測量技術可供制造商和生產經理直接在生產車間使用，從而大幅提升質量控制工作的靈活性和效率。ZEISS T-POINT便攜式 CMM 測量筆 不易受環(huán)境變化的影響，可生成高精度的測量數據。便攜式 CMM測量筆無需固定的測量設置，在車間環(huán)境中的表現遠遠優(yōu)于傳統的便攜式 CMM。
ZEISS T-POINT系統功能完備，可實時執(zhí)行其掃描和探測設備與被測部件上目標點之間的動態(tài)參考。ZEISS T-TRACK光學跟蹤器及無線探頭在測量過程中均可隨時移動，并生成同樣高質量的數據。ZEISS T-POINT便攜式光學測量筆專為滿足當今制造業(yè)對質量的高度要求而設計，具有少有的靈活性，測量范圍相對其他便攜式 CMM 更加廣泛。
此計量檢測解決方案可幫助制造企業(yè)消除制造過程效率低下的問題，避免不必要的開銷。
特性：
計量級測量：具有超高的精度，更有較高的重復性及可追蹤認證
動態(tài)參考：通過光學反射器準確到幾微米產品一個“鎖定”到部件本身的參照系，用戶因而可以在測量過程中隨意移動對象
可準確測量多種部件尺寸
現場校準步驟簡便，質量控制精度不受時間影響
無需固定設置：測量過程中可隨時自由移動部件和系統
測量范圍更寬廣并易于擴展
自動對齊：借助光學反射器可實現重復檢測而無需重新對齊
人體工程學設計，具有多功能按鈕，與軟件交互更為簡便
學習周期短，操作直觀
應用：
檢測和質量控制
逆向工程
部件至 CAD 分析
和供應商質量檢測
針對 3D 模型與原始部件或生產工具的一致性評估
針對制成部件與原始部件的一致性評估
對齊
工具認證
多點測量
與 ZEISS T-SCAN 結合使用時，可實現全自由形態(tài)檢測并生成高密度色圖。
逆向工程：
幾何實體的逆向工程（球面、柱面、平面）
與 ZEISS T-SCAN 光學 CMM 掃描儀結合使用時，可對混合部件（幾何與自由形態(tài)）執(zhí)行更快更準確的逆向工程
