用于采集自由曲面的光學(xué)式探頭（測量）

特點：

  1.ZEISS DotScan是測量自由曲面和細(xì)微結(jié)構(gòu)的；

  2.ZEISS DotScan采用色階共聚焦白光探頭，特別適用于測量敏感、柔軟、具反射性或低對比度的表面，因為對于這類表面，

  探針或相機(jī)傳感器已超過其能力所及，使用 ZEISS DotScan時，具高反射性的表面如膝關(guān)節(jié)植入物的金屬部件無須注入造影

  劑，即可進(jìn)行掃描，因此，使用此探頭也能區(qū)分透明上漆表層和其下方的金屬層；

用途多樣靈活：

  1.ZEISS DotScan共有三種探頭尺寸，適用于三種不同的測量范圍：10、3和1mm；

  2.探頭可在一次CNC運(yùn)行期間全自動更換，以適用于不同的表面，或改換其他光學(xué)探頭；

  3.關(guān)節(jié)軸每次可移動2.5度，可將ZEISS DotScan調(diào)整到垂直于待測量部件；

  4.由于ZEISS DotScan 1mm的測量角度是+/-30度，因此更大曲率的部件也能測量，再加上探針的操作模式，使得各種材料都能

  毫無問題地從各種角度進(jìn)行測量；

  5.配合使用轉(zhuǎn)臺，甚至連4軸的測量工作也難不倒ZEISS DotScan；

可兼容的三坐標(biāo)測量機(jī)：

    ZEISS ACCURA            ZEISS O-INSPECT             蔡司PRISMO