島津X射線衍射儀XRD-6100配備高精度垂直型測(cè)角儀，適用于粉末、薄膜、難于固定的樣品、易溶樣品等各種樣品的測(cè)定。
X射線衍射分析方法可實(shí)現(xiàn)無損的物相定性和定量分析,而且利用衍射峰位,衍射峰強(qiáng)度,衍射峰線形等信息可以進(jìn)行材料晶體結(jié)構(gòu)的表征,如:點(diǎn)陣常數(shù)的精 密測(cè)定,晶粒尺寸和微觀應(yīng)變計(jì)算,宏觀殘余應(yīng)力測(cè)定,結(jié)晶度計(jì)算等;X射線衍射分析方法是材料微觀結(jié)構(gòu)表征常規(guī)和較有 效的方法之一。
Ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進(jìn)行物質(zhì)的定性分析、晶格常數(shù)確定和應(yīng)力測(cè)定等。并且，可通過峰面積計(jì)算進(jìn)行定量分析。
可通過半高寬、峰形等進(jìn)行粒徑/結(jié)晶度/精 密Ｘ射線結(jié)構(gòu)解析等各種分析。
LabX XRD-6100配備高精度垂直型測(cè)角儀，適用于粉末、薄膜、難于固定的樣品、易溶樣品等各種樣品的測(cè)定。

XRD-6100具有本質(zhì)安 全結(jié)構(gòu)。
只有門連鎖機(jī)構(gòu)閉鎖時(shí)，X射線管才能開啟，具備高安 全性。
配備高速運(yùn)轉(zhuǎn)（1000°/min）及高精度角度重 現(xiàn)性（±0.0001°）的垂直型測(cè)角儀，可進(jìn)行各種樣品的測(cè)定。
驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)為獨(dú) 立2軸驅(qū)動(dòng)，可選擇θ-2θ聯(lián)動(dòng)或θ、2θ軸獨(dú) 立驅(qū)動(dòng)，特別對(duì)薄膜測(cè)定行之有 效。
備有豐富的附件（軟件/硬件）來滿足多種需要。
對(duì)應(yīng)工業(yè)環(huán)境測(cè)定標(biāo)準(zhǔn)/工業(yè)環(huán)境評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)修訂
X射線衍射儀XRD-6100 環(huán)境測(cè)定包
適合工業(yè)環(huán)境中的游離硅及石棉的定性/定量分析。