從簡(jiǎn)單的3D光學(xué)表面分析系統(tǒng)開(kāi)始Polytec 的 TopMap Metro.Lab 是一種高精度白光干涉儀（相干掃描干涉儀），具有大的垂直范圍和納米分辨率。這意味著 Metro.Lab 外形測(cè)量系統(tǒng)非常適合非接觸式測(cè)量大面積表面和結(jié)構(gòu)，甚至是柔軟和精密材料的平面度、臺(tái)階高度和平行度。作為一個(gè)完整的測(cè)量站，TopMap Metro.Lab 是您想要測(cè)量幾乎所有表面上的大面積外形的解決方案。即使在困難條件下，70mm 的大垂直測(cè)量范圍也允許您使用亞納米分辨率進(jìn)行測(cè)量。由于 TopMap Metro.Lab 物超所值，無(wú)論是用于計(jì)量實(shí)驗(yàn)室或是靠近生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的地方，都非常具有吸引力。它可以處理許多您以前使用觸覺(jué)系統(tǒng)進(jìn)行處理的任務(wù)。與所有 TopMap 系統(tǒng)一樣，開(kāi)放式的軟件架構(gòu)還允許您編制常規(guī)任務(wù)或設(shè)置自己的用戶(hù)界面。亮點(diǎn)1.由于光學(xué)干涉測(cè)量原理，它屬于非接觸式2.遠(yuǎn)心鏡頭讓測(cè)量陡峭部分（例如鉆孔）成為可能3.70 mm 的范圍，非常靈活4.快速測(cè)量大面積5.增強(qiáng)版的大面積測(cè)量范圍可達(dá)約 80 x 80 毫米6.易于使用的自動(dòng)化軟件，生成 DIN / ISO 合規(guī)性參數(shù)7.具有智能表面掃描功能，適用于幾乎所有表面，即使是那些具有參差不齊反射率的表面8.可集成在防塵防振工作站中，用于機(jī)器大廳由于TopMap Metro.Lab具有的性?xún)r(jià)比，因此在從計(jì)量實(shí)驗(yàn)室到接近生產(chǎn)的所有地點(diǎn)使用時(shí)都特別有吸引力。TopMap Metro.Lab允許比傳統(tǒng)的觸覺(jué)測(cè)量法更全面的表面分析。與所有TopMap系統(tǒng)一樣，開(kāi)放的軟件架構(gòu)也使您能夠?qū)ΤＲ?guī)任務(wù)進(jìn)行編程或設(shè)置您自己的用戶(hù)界面。