TopMap Micro.View 臺(tái)式光學(xué)表面輪廓儀是易于使用且緊湊的光學(xué)輪廓儀。結(jié)合的性能及實(shí)惠價(jià)格并具有強(qiáng)大的計(jì)量解決方案并。Micro.View的垂直測(cè)量范圍可擴(kuò)展到100 毫米和CST連續(xù)掃描技術(shù)，可在納米分辨率下測(cè)量復(fù)雜的形貌。這種便捷的桌面設(shè)置具有集成的電子設(shè)備，并帶有智能聚焦查找器，可簡(jiǎn)化并加快測(cè)量過(guò)程。亮點(diǎn)1.在緊湊的裝置中測(cè)量表面光潔度2.非接觸式3D地形，粗糙度和紋理的測(cè)量3.采用CST連續(xù)掃描技術(shù)可達(dá)到100毫米垂直測(cè)量范圍4.高超的橫向分辨率5.可從特定于應(yīng)用程序中選擇面積小但具有功能擴(kuò)展受益于可選的ECT環(huán)境補(bǔ)償技術(shù)，即使在嘈雜和充滿挑戰(zhàn)的生產(chǎn)環(huán)境中，也能確保可靠和準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果。Micro.View是一種經(jīng)濟(jì)有效的質(zhì)量控制儀器，用于在制造和研究中檢查精密的工程表面。TopMap Micro.View是您可以信賴的精密測(cè)量技術(shù)。相信我們的經(jīng)驗(yàn)，相信我們的專業(yè)知識(shí)，相信我們的專家。