OCI-T光學(xué)故障測(cè)量?jī)x具有功能齊全、性價(jià)比高等特點(diǎn),可實(shí)現(xiàn)從器件到光學(xué)鏈路全范圍的精確插損、回?fù)p、長(zhǎng)度測(cè)量。長(zhǎng)度測(cè)量范圍為10m,精度可達(dá)毫米量級(jí),空間分辨率為20μm。非常適用于定量分析,品質(zhì)監(jiān)測(cè)及故障診斷。
產(chǎn)品特點(diǎn):
空間分辨率:20μm
測(cè)量長(zhǎng)度:20m
中心波長(zhǎng):1550nm
插損、回?fù)p分析
主要應(yīng)用:
無(wú)源器件插損、回?fù)p測(cè)量
硅光芯片插損、回?fù)p測(cè)量
平面波導(dǎo)器件測(cè)試
光學(xué)鏈路分析、診斷
參數(shù):
備注: