型號 | CCI |
測量方法 | 相關相干干涉(CCI) |
Z軸分辨率 | 0.01nm |
Z軸測量范圍 | 2.2nm |
RMS重復性 | <0.02nm |
測量面積(X.Y) | 6.6x6.6mm |
特點 | 非壓電陶瓷閉環(huán)Z軸控制,提高精度,不易損壞 |
應用范圍 | MEMS, 芯片,膜厚,鏡頭和玻璃表面分析,磨損測試和摩擦學,材料分析,太陽能電池,等 |
非接觸式光學干涉表面輪廓形貌儀
參考價 | 面議 |
- 公司名稱北京瑞普能貿(mào)易有限公司
- 品 牌
- 型 號
- 所 在 地
- 廠商性質代理商
- 更新時間 2022-08-27
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