20/30 XL顯微分光光度計(jì)的設(shè)計(jì)允許您測量具有微觀特征的大尺度樣品的光譜,圖像,和薄膜厚度。“XL”代表“超大”,具有微觀特征的大尺度樣品是20/30 XL的樣本類型。為滿足您的需求,20/30 XL集成了光學(xué)、電子、光譜學(xué)和軟件方面的,以的速度和能力提供的性能。甚至CRAIC儀器的易用性得到了極大的改進(jìn),使其成為紫外-可見-近紅外顯微光譜學(xué)的。
20/30 XL顯微分光光度計(jì)允許您測量UV-visible-NIR范圍內(nèi)的透射,吸光度,反射率,發(fā)射和光致發(fā)光微光譜的特征,樣品尺寸小于一微米的跨度。然而,根據(jù)儀器的配置,樣品的大小基本上可以是無限的。現(xiàn)在你可以在的平板顯示器像素內(nèi)繪制顏色變化,輕松測量300mm晶圓的薄膜厚度,或測量藝術(shù)品的熒光。
同時(shí),20/30 XL也可提供拉曼顯微光譜,高分辨率紫外顯微光譜,甚至近紅外顯微鏡光譜的測量。
20/30 XL顯微分光光度計(jì)使用簡單,提供無損測量和的光譜數(shù)據(jù)。
主要特性:
大樣品的UV-visible-NIR, Raman和PL微光譜
? 大尺寸樣品的顯微分析
? 光譜范圍:200-2500nm
? 紫外-可見-近紅外透射顯微光譜
? 紫外-可見-近紅外透射成像
? 紫外-可見-近紅外反射顯微光譜
? 紫外-可見-近紅外反射成像
? 紫外-可見-近紅外熒光顯微光譜
? 紫外-可見-近紅外熒光顯微成像
? 拉曼顯微光譜
? 紫外-可見-近紅外范圍內(nèi)的偏振顯微光譜
? 紫外-可見-近紅外范圍內(nèi)的偏振微區(qū)成像
? 薄膜厚度測量
? 微觀樣品的色度測量
? 手動或全自動操作
? 配備Lightblades技術(shù)
? 集成TE制冷陣列探測器以提供超低噪聲和長期穩(wěn)定性
? 樣品溫度的精確控制
? 對樣品上小于一微米區(qū)域的校準(zhǔn)和變量測量
? 同時(shí)使用目鏡和數(shù)字成像的成像功能
? 搭配Lambdafire光譜,成像控制及分析軟件。Lambdafire同時(shí)包括觸摸屏控制
? 專業(yè)的軟件模塊,包括統(tǒng)計(jì)分析,光譜數(shù)據(jù)庫,成像分析等
? 易于使用和維護(hù)
? 來源于顯微光譜領(lǐng)域?qū)<?/p>
紫外-可見-近紅外顯微光譜
該儀器是一個*集成的顯微光譜單元,光譜范圍包括從紫外到可見到近紅外。可同時(shí)對采樣孔徑和樣品直接成像從而進(jìn)行快速精確的測量。20/30XL搭載Lightblades技術(shù),即便尺寸在亞微米樣品的透射,反射,偏振,熒光光譜也能測量。CRAIC Technologies也是美國國家標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)研究所(NIST)可追溯分光光度計(jì)標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)可的來源。
拉曼顯微分光光度計(jì)
靈活的拉曼顯微分光光度計(jì)
當(dāng)裝配上CRAIC Apollo拉曼光譜儀模塊時(shí),20/30XL就具備了拉曼功能,能夠?qū)︼@微樣品進(jìn)行拉曼測量,共振拉曼測量,以及其它類型的測量。模塊包括激光器,拉曼光譜儀以及能夠收集樣品的高質(zhì)量拉曼光譜的光學(xué)接口。
熒光
高靈敏度發(fā)射顯微光譜&成像
對20/30XL進(jìn)行一定配置,可獲得顯微樣品的熒光和冷光光譜和成像。搭載Lightblades技術(shù),光譜范圍擴(kuò)展到從深紫外到近紅外,并且能夠在同一光譜范圍測量發(fā)射光譜,因此,20/30XL是材料科學(xué),生物,地理等學(xué)等學(xué)科中測量顯微熒光的有力工具。
紫外-可見-近紅外偏振光的顯微光譜&成像
對20/30XL進(jìn)行一定配置,即便是最小的樣品,也能獲得其偏振光譜和成像。搭載Lightblades技術(shù)以及從深紫外到近紅外光譜范圍使得20/30XL成為性能的偏振顯微分光光度計(jì)。具有雙折射或其他類型偏振特性的樣品通過這個精良的系統(tǒng)可以快速便捷的獲得其光譜和成像。
光譜表面繪圖
結(jié)合硬件和軟件對具有微觀空間分辨率的樣品進(jìn)行自動光譜分析,可生成樣品的吸收,透射,反射,熒光,發(fā)射和拉曼光譜的3D繪圖。
紫外-可見-近紅外的成像質(zhì)量
20/30XL包括了一個的配有科研級光學(xué)器件的紫外-可見-近紅外顯微鏡。可在紫外-可見-近紅外區(qū)域進(jìn)行高分辨數(shù)字成像。20/30XL擁有精良的圖像處理軟件。這使得20/30XL在進(jìn)行透射,反射,偏振和熒光顯微檢測的時(shí)候,能夠快速便捷的實(shí)時(shí)觀測和捕捉圖像。
? 半導(dǎo)體膜厚
? MEMS器件
? 太陽能光伏板
? 平板顯示器的比色法
? 平面顯示器的強(qiáng)度Mapping
? 顯微光譜的問題文件
? Microspectra藝術(shù)作品
? 或任何其他大規(guī)模樣品…
支持
CRAIC Technologies為的CRAIC設(shè)備提供服務(wù)和支持。CRAIC Technologies服務(wù)工程師對CRAIC Technologies產(chǎn)品提供的設(shè)備修理,維護(hù),培訓(xùn)和技術(shù)支持。