L3系統(tǒng)滿足了如今的研究科學(xué)家、設(shè)計(jì)工程師、品質(zhì)經(jīng)理或負(fù)責(zé)材料表徵、檢驗(yàn)和確認(rèn)的技術(shù)人員的要求。與涉及編程的傳統(tǒng)材料試驗(yàn)系統(tǒng)不同，在試驗(yàn)之前必須準(zhǔn)確知道需要的測量手段，L3系統(tǒng)採用的是比較簡單的方法。首先創(chuàng)建您的試驗(yàn)方法，然後利用試驗(yàn)方法創(chuàng)建您的圖表，其次使用一組分析工具在圖表上進(jìn)行測量。可以沿著圖形的任何位置測量任何點(diǎn)和任何分段，使用應(yīng)力、張力、負(fù)荷、距離和時(shí)間進(jìn)行分析，測量結(jié)果將顯示在圖表上，並顯示在有統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)和公差的數(shù)據(jù)表中。
- 使用拉伸、壓縮、彎曲、循環(huán)、剪切和摩擦等應(yīng)用程序測量應(yīng)力、張力、負(fù)載、延伸率、擴(kuò)展和時(shí)間結(jié)果。
- 使用國際認(rèn)可的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)ASTM、ISO、DIN、TAPPI等創(chuàng)建試驗(yàn)設(shè)置或創(chuàng)建您自己的訂製試驗(yàn)方法。
- 以圖表方式測量和計(jì)算結(jié)果：
- 點(diǎn)。
- 模量、斜率和截距。
- 條件屈服。
- 最小//平均值。
- 中斷(率，%降幅)。
- 峰值和谷值。
- △
- 比率。
- 遲滯。
- 功/能量。
- 數(shù)位和模擬I/O和控制邏輯選項(xiàng)。
| 型號 | MMD-10K | MMD-30K | MMD-50K |
| 負(fù)載容量 | N | 10,000 | 30,000 | 50,000 |
| KGF | 1000 | 3000 | 5000 |
| LBF | 2250 | 6750 | 11,250 |
