三次元工具顯微鏡
- 採用光學Z軸對焦符號非接觸式檢測待測物(SamPle)高度/深度,避免造成待測物(SamPle)刮傷或變形。
- 可加裝測量軟體,並運用量測統(tǒng)計分析(SPC)管制、WORD、EXCEL快速製作量測報告。
- 可單獨選購Z軸對焦符號,加裝到其它三次元工具顯微鏡,有效提高Z軸精度。
應用範圍:
- 錫球高度
- 金線弧高
- 銅箔高度
- 晶圓高度/深度
- 電子、機械各類產品高度/深度檢測
Z軸對焦符號
多種標準測定平臺可供選擇
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應用範圍:
Z軸對焦符號
多種標準測定平臺可供選擇
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