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    產(chǎn)品|二手機(jī)|公司|采購|資訊

    材料熱擴(kuò)散率測試儀 TA-35

    參考價面議
    具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
    • 公司名稱志隆國際科技有限公司
    • 品       牌
    • 型       號
    • 所  在  地
    • 廠商性質(zhì)代理商
    • 更新時間 2022-06-02
    • 訪問次數(shù)434
    產(chǎn)品標(biāo)簽:

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    隆國際科技有限公司成立於2009年,創(chuàng)辦人在公司成立之前,曾服務(wù)於中國臺灣某大進(jìn)口儀器代理商20年,累積進(jìn)口儀器銷售與售後服務(wù)之實務(wù)經(jīng)驗。公司成立初期的業(yè)務(wù)是配合學(xué)術(shù)研究機(jī)關(guān)客製簡易測試儀器並累積出材料固化測試與表面量測之設(shè)計改造與維修經(jīng)驗。因科技快速進(jìn)步、自動化量測取代人工測試觀念慢慢改變,客戶對新式儀器需求開始增加。基於先前老客戶對志隆公司信賴以及服務(wù)客戶立場,志隆公司開始尋找與代理測試儀器並擴(kuò)大志隆公司商業(yè)市場規(guī)模。
    表面粗度測定儀,真圓度測定儀,其他尺寸檢測設(shè)備,3D掃描量測系統(tǒng)
    廠牌 : BETHEL日本BETHEL公司開發(fā)材料熱擴(kuò)散率測試儀TA-35,可以量測樣品水平方向與垂直方向熱擴(kuò)散率,被測樣品從高導(dǎo)熱單晶鑽石到低導(dǎo)熱PI材料都可測試,樣品製作無需特殊治具與工法,樣品形狀除了需是平面外也無其他限制。
    材料熱擴(kuò)散率測試儀 TA-35 產(chǎn)品信息

    產(chǎn)品說明

    材料熱物性研究中,熱傳導(dǎo)率、熱擴(kuò)散率、熱浸透率是可以藉由計算公式互相帶算出來的。例如:當(dāng)量測到熱擴(kuò)散率數(shù)值時,若已知材料的密度便可帶算出熱傳導(dǎo)率,若已知材料的比熱容便可帶算出熱浸透率。

    Bethel公司的熱波分析儀採用點雷射方法對樣品做周期性加熱,使得樣品表面形成熱波,並用輻射溫度計測得熱波,屬於非接觸是量測方式,此方式已在2018年獲得JIS R7240標(biāo)準(zhǔn)規(guī)範(fàn)。

    TA-35對於材料熱擴(kuò)散的量測,可量測垂直Z方向、水平XY方向熱擴(kuò)散,使用點雷射加熱方式,可以對樣品做小面積掃描量測,以幫助分析面積範(fàn)圍內(nèi)材料熱擴(kuò)散均一性。

    等晶片需要石墨稀散熱材料提高散熱效能,TA-35已獲得大廠認(rèn)可做為石墨稀散熱片熱擴(kuò)散測試基準(zhǔn)。

    特色

    • 非接觸式雷射對樣品加溫方式,量測材料水平及垂直方向熱擴(kuò)散。
    • 無需專用治具,樣品厚度均一即可,形狀大小精度無限制。
    • 樣品可連續(xù)掃描,數(shù)據(jù)可整合成3D MAP,方便判讀材料熱擴(kuò)散均一性。
    • 樣品厚度數(shù)十um就可測試,測試材料從低導(dǎo)熱PI材料到高導(dǎo)熱單晶鑽石皆可測試。

    規(guī)格

    材料熱擴(kuò)散率測試儀TA-35
    量測功能 材料熱擴(kuò)散率
    量測範(fàn)圍 0.1 ~ 1,000 [ x10-6m2s-1]
    輸出數(shù)據(jù) 頻率、距離、振幅、相位、厚度 [TXT格式]
    量測模式 面內(nèi)、面外、分布
    雷射加熱器 波長808nm、1.5W
    輻射溫度計 元素InSb
    降溫方式 液態(tài)氮降溫
    量測溫度 常溫
    量測頻率 0.01 Hz ~ 100 kHz
    高溫量測 RT ~ 300℃ 選配
    測試樣品尺寸 10 x 10 x 0.015 ~ 100 x 100 x 2 mm
    樣品載臺規(guī)格 XY ±10mm
    偵測載臺規(guī)格 XY ±5mm
    主機(jī)尺寸 約56 cm W x 74 cm D x 69 cm H
    重量 約 90 公斤
    電源 100 VAC – 240 VAC,50/60 Hz 自動切換通用輸入, 5 A
    操作環(huán)境 溫度20 ~ 35℃ 濕度20~80% RH

    銅和銀 熱擴(kuò)散率測定(各種厚度)

    從圖表中能得知Cu與Ag在不同厚度的量測數(shù)據(jù)均雷同,且與文獻(xiàn)值差異不大。

    多層石墨片 熱擴(kuò)散率測定(厚度=190μm)

    考慮到雷射強(qiáng)度,多層石墨板的熱擴(kuò)散率為7.2x10-4m2s-1,實測數(shù)據(jù)與設(shè)計值7~8x10-4m2s-1相吻合

    碳纖樹脂複合材料熱擴(kuò)散率的測定

    量測3D圖,導(dǎo)熱係數(shù)的均勻性可以用3D圖形表示,更容易判別。

    即使使用相同的樹脂,不一樣的成型條件和模具形狀,導(dǎo)熱係數(shù)也會發(fā)生變化,利用TA獨特的3D繪圖表示,能夠了解到產(chǎn)品在不同方向的熱分佈。

    機(jī)能材料TIM熱擴(kuò)散率分佈的測量

    該圖為某電池大廠(日商)的3D Mapping

    圖為使用TA-35材料熱擴(kuò)率散測試儀來量測目前電池產(chǎn)業(yè)中非常重要的薄膜電池。此為金屬膜與陶瓷或樹脂的兩層貼合而成的薄膜,透過3D Mapping分佈測量法所量測出在特定面積中熱擴(kuò)散率分布的圖形,從此圖形中可評估多層材料在固定面積中的貼合狀況,可判定是否存在缺陷以及材料的均勻性。

    CPU中 TIM材量測範(fàn)例

    由於層壓材料TIM是通過堆疊具有不同熱傳導(dǎo)率的材料所製成,因此成品的熱傳導(dǎo)率將會根據(jù)黏附的均勻性發(fā)生各種不一樣的變化,但是量測層壓材料TIM的熱傳導(dǎo)率一直都是非常困難的,這也是開發(fā)時所關(guān)注的重點之一。

    TA-35是透過連續(xù)量測垂直向的相位延遲來取得正相關(guān)的熱傳導(dǎo)率。不僅適用於材料熱性能評價,也適用於零件的缺陷檢查以及均勻性確認(rèn)。

    CPU組成

    TIM材 密著度範(fàn)例

    樣品量測 A
    IRMM 認(rèn)證材料玻璃陶瓷(Al2O3-TiC)
    熱擴(kuò)散率1.87x10-6m2s-1 (298K)

    面外量測
    (1)測量值:1.91x10-6m2s-1
    (2)實測值與標(biāo)準(zhǔn)值相差±2%
    (3)認(rèn)證值:1.87x10-6m2s-1
    (4)厚度:335μm 直徑:25mm

    面內(nèi)量測
    (1)測量值:1.82x10-6m2s-1
    (2)實測值與標(biāo)準(zhǔn)值相差±3%
    (3)認(rèn)證值:1.87x10-6m2s-1
    (4)厚度:335μm 直徑:25mm

    樣品量測 B
    NMIJ 陶瓷,熱擴(kuò)散率9.51x10-6m2s-1 (300K)

    面外量測
    (1)測量值:9.18x10-5m2s-1
    (2)實測值與標(biāo)準(zhǔn)值相差±1%
    (3)認(rèn)證值:9.25x10-5m2s-1
    (4)厚度:1020μm 直徑:10mm

    面內(nèi)量測
    (1)測量值:9.25x10-5m2s-1
    (2)實測值與標(biāo)準(zhǔn)值相差±0%
    (3)認(rèn)證值:9.25x10-5m2s-1
    (4)厚度:1020μm 直徑:10mm

    樣品量測 C
    同向性石墨(透過NMIJ校準(zhǔn)的閃光法量測)
    熱擴(kuò)散率92.5x10-6m2s-1 (298K)

    面外量測
    (1)測量值:9.79x10-6m2s-1
    (2)實測值與標(biāo)準(zhǔn)值相差±3%
    (3)認(rèn)證值:9.51x10-6m2s-1
    (4)厚度:1048μm 直徑:10mm

    面內(nèi)量測
    (1)測量值:9.04x10-6m2s-1
    (2)實測值與標(biāo)準(zhǔn)值相差±5%
    (3)認(rèn)證值:9.51x10-6m2s-1
    (4)厚度:1048μm 直徑:10mm


    (1) 關(guān)於面內(nèi)方向上的熱擴(kuò)散率,顯示了此分析方法中有考慮樣品的厚度和方向上的熱擴(kuò)散率。
    (2) 從對玻璃陶瓷,Al2O3-TiC和各向同性石墨進(jìn)行了測量,其結(jié)果量測值和文獻(xiàn)值相吻合。
    (3) 量測過程中呈現(xiàn)了點週期性加熱輻射測溫法的驗證方法
    (4) 採用新型點量測方式,可用分佈測量法評估樣品缺陷和不均勻性

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