產(chǎn)品說明
為了節(jié)約能源,提高能源效率是關(guān)鍵問題。 該設(shè)備專注於電子設(shè)備的熱問題,可以通過可視化和量化設(shè)備的熱特性來評(píng)估材料的熱擴(kuò)散性。
該裝置通過激光對(duì)樣品施加調(diào)製循環(huán)加熱,通過紅外相機(jī)檢測(cè)紅外輻射量的變化,可以檢測(cè)樣品中的異常部分並可視化不均勻性的熱特性。
即使沒有激光照射。 我們可以觀察紅外光亮度並測(cè)量樣品溫度。
通過紅外微距光學(xué)系統(tǒng)可以進(jìn)行高倍率觀察。
此外,使用單加熱器和單溫度測(cè)量?jī)x的熱擴(kuò)散檢測(cè)是可行的。
特色
- 雷射加熱功能
- 微距攝影光學(xué)系統(tǒng)(分辨率:約30μm)
- 高性能紅外熱像儀(觀測(cè)波段:7.5~13.5µm)
- 自行開發(fā)的濾波技術(shù)
規(guī)格
基本功能 | 測(cè)量目的:樣品缺陷,不均勻度,亮度,樣品溫度,熱特性 輸出資料:頻率,距離,振幅,相位,亮度,圖像資料 分析模式:點(diǎn)/區(qū)域,相位分析 |
---|---|
配件 | 調(diào)溫加熱器, 分析軟體, 電腦 |
測(cè)量溫度 | 溫度:室溫~250[°C] 測(cè)量頻率:0.1-10[Hz]~ |
IR相機(jī) | 組成點(diǎn):336 X 256 組成形式:Vox 紅外線感測(cè)器 像素尺寸:17µm 觀測(cè)波長(zhǎng):7.5-13.5[µm] 幀率:30[Hz] 解析度:大約30[µm] |
半導(dǎo)體(持續(xù)) | 波長(zhǎng):808[nm] 輸出:5[W] 正弦波調(diào)製:0.1-30[Hz] |
載臺(tái)位移 | 平面:±15[mm] 垂直:±50[mm] |
電源 | 100-240[V AC], 10-5[A], 50/60[Hz] |
使用環(huán)境 | 溫度:20-30[°C] 濕度:20-80[%] |
儲(chǔ)存環(huán)境 | 溫度:0-50[°C] 濕度:20-80[%] |
使用須知 | 樣品:固體材料(樹脂, 玻璃, 陶瓷, 金屬, 等) 形狀:任何形狀 尺寸: 100 X 100 X 30[mm] 塗層:需要黑化處理 參考樣品:不需要 |
儀器主體 | 尺寸:W552 X D602 X H657[mm] 重量:76.5[kg] |
雷射安全標(biāo)準(zhǔn) | CLASS1,IEC/EN 60825-1:2007 |