適用于NIMV1000系列485通訊協(xié)議的組態(tài)工業(yè)智能控制屏
調(diào)試案例
搭配NiMotion STM5756-RS485一體化步進(jìn)電機(jī)調(diào)試
技術(shù)參數(shù) | |
型號(hào)說明 | NIMV1000—485—A07—A (RS485,電阻觸摸) |
產(chǎn)品系列 | 基本型 |
核心處理器 | Cortex-M3 + FPGA 雙核架構(gòu) |
操作系統(tǒng) | 無操作系統(tǒng),上電即可運(yùn)行 |
協(xié)議類型 | 可升級(jí)固件支持MODBUS RTU 協(xié)議 |
尺寸 | 7.0 寸 |
分辨率 | 800*480 |
安裝方向 | 支持 0、90、180 和 270 度旋轉(zhuǎn)安裝顯示 |
存儲(chǔ)空間 | 1Gbit |
字庫 | 內(nèi)置 30MB 字庫,包含任何大小點(diǎn)陣ASCII、GBK、GB2312、UNICODE 字庫,可自定義任意電腦字體顯示 |
圖片存儲(chǔ) | 支持任意大小圖片存儲(chǔ),累加可存儲(chǔ)約 109 張全屏圖片 |
顏色 | 65K 色,16 位RGB |
電壓 | 5-40V(誤差±0.2V) |
功耗 | 背光最亮:686mA@5V;關(guān)背光:168mA@5V |
通訊方式 | RS485 |
通訊波特率 | RS485:1200~115200,典型波特率:9600bps |
圖片下載 | 支持MiniUSB/SD 卡/UART 下載,研發(fā)推薦USB 下載、生產(chǎn)批量建議SD 下載 |
固件升級(jí) | 插入SD 卡升級(jí)屏幕固件 |
實(shí)時(shí)時(shí)鐘(RTC) | 支持時(shí)鐘、定時(shí)器、倒計(jì)時(shí)等功能 |
屏有效顯示區(qū)(AA) | 長(zhǎng)×寬 = 153.2mm×84.8mm |
產(chǎn)品尺寸(長(zhǎng)*寬*高) | 長(zhǎng)×寬×高 = 210.0mm×149.8mm×24.0mm |
配套上位機(jī)軟件 | VisualTFT® |
AV輸入 | 不支持 |
語音播放 | 不支持 |
視頻播放 | 不支持 |
WIFI | 不支持 |
三防漆工藝 | 不支持 |
學(xué)習(xí)周期 | 30 分鐘熟悉開發(fā)環(huán)境,3 天完成人機(jī)交互設(shè)計(jì)程序 |
程序調(diào)試 | 上位機(jī)集成了“虛擬智能控制屏”,無需連接硬件,直接Keil IDE 與其綁定調(diào)試 |
啟動(dòng)時(shí)間 | 上電即運(yùn)行,無系統(tǒng)加載時(shí)間 |
組態(tài)控件 | 擁有按鈕、文本、下拉菜單、進(jìn)度條、滑塊、儀表、動(dòng)畫、二維碼、曲線、數(shù)據(jù)記錄、等各種組態(tài)控件 |
系統(tǒng)鍵盤 | 內(nèi)置虛擬數(shù)字、字符鍵盤,支持中英文輸入法,可自定義鍵盤數(shù) |
數(shù)據(jù)記錄 | 支持?jǐn)?shù)據(jù)記錄控件內(nèi)容導(dǎo)出到SD 卡 |
邏輯運(yùn)算處理 | 上位機(jī)內(nèi)嵌腳本編譯器,用戶可在屏內(nèi)自定義各種復(fù)雜邏輯關(guān)系和協(xié)議,滿足用戶99.9%的產(chǎn)品功能需求 |
生命周期 | 采用傳統(tǒng)處理器,多年不斷貨 |
顯示器類型 | TFT 液晶屏 |
背光燈管 | LED |
亮度(cd/m²) | 250 |
視角(L/R/T/B) | 70/70/50/70 |
工作溫度 | -20~+70℃ |
存儲(chǔ)溫度 | -30~+80℃ |
震動(dòng)測(cè)試 | 10 to 25Hz(X,Y,Z 方向 2G 30 分鐘) |
ESD 測(cè)試 | Air=±18KV,Contact=±16KV (可支持更高) |
高低溫測(cè)試 | 實(shí)驗(yàn)溫度:70℃±3℃,72H/-20℃±3℃,72H;實(shí)驗(yàn)濕度:50℃±3℃,90%±3%RH, 72H |
認(rèn)證ROHS | ROHS、 CE 認(rèn)證(EMI 等級(jí):EN55022 ClassB 標(biāo)準(zhǔn)) |
安裝示意圖
以下為NIMV1000智能控制屏可編程人機(jī)界面產(chǎn)品的安裝示意圖
可靠性測(cè)試
為滿足不同的現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用,智能控制屏進(jìn)行了一系列的可靠性測(cè)試,包括:高低溫、ESD、群脈沖、輻射、觸摸壽命等可靠性測(cè)試。