CMS2

COULOSCOPE CMS2 系列儀器通過電解退鍍方式測量鍍層厚度。還可使用庫侖法精確測定任何類型底材上的多鍍層厚度。CSM2 STEP 版本可對單種鍍層進行標準的STEP測試，以檢測電位差（如多層鎳涂層的質(zhì)量控制）。

特性：

• 使用準確性高的電解退鍍技術（庫侖法），精確地測量多鍍層的厚度
• 圖形顯示的交互方式，易于操作
• 適用性廣泛：可測量金屬和非金屬底材上的鍍層厚度，也適合測量多鍍層厚度
• 提供全面的附件產(chǎn)品供您選擇，可滿足特定需求

應用：

• 金屬和非金屬底材上任何類型的金屬鍍層
• 單層或多層的鍍層厚度測量
• 特別適用于通過 STEP 測試進行多層鎳測量
• 適用于 0.05 µm 至 40 µm 的鍍層厚度測量