Hommel-Etamic surfscan 是通用的粗糙度和輪廓測(cè)量系統(tǒng)，便于您進(jìn)行質(zhì)量控制。使用該光機(jī)探測(cè)系統(tǒng)，您可以在一次運(yùn)行中測(cè)量工件的粗糙度和輪廓。所有特性均清晰地顯示在報(bào)告中。
在整個(gè)測(cè)量范圍中以 6 納米的高分辨率測(cè)量，因此能可靠地測(cè)量精細(xì)表面的粗糙度，還可以測(cè)量關(guān)鍵輪廓特性。
得益于可以快速地更換的智能探臂，可以毫無問題地執(zhí)行其他測(cè)量任務(wù)。內(nèi)置的 RFID 芯片確保探臂自動(dòng)分配給測(cè)量程序。
測(cè)量系統(tǒng)采用模塊化設(shè)計(jì)，使您可以根據(jù)自己的確切需求來定制測(cè)量站。如有必要，可以使用其他探測(cè)系統(tǒng)擴(kuò)展 測(cè)量系統(tǒng) - 例如為了增加輪廓測(cè)量范圍，或?yàn)榱诉M(jìn)行特定的粗糙度測(cè)量。
