具有模塊交換功能的超小型測頭，它使用應(yīng)變片機構(gòu)，比機械結(jié)構(gòu)式觸發(fā)測頭的壽命更長、精度更高TP200與SCR20和PI200-3配用
TP200系統(tǒng)組件包括：
TP200或TP200B測頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動公差）
TP200測針模塊—選擇固定越程測力：SF（標準測力）或LF（低測力）
PI200-3測頭接口
SCR200測針交換架
還有一種EO模塊（長過行程），過行程測力與SF相同，但工作范圍更大，并在測頭Z軸方向提供保護。
特性與優(yōu)點
應(yīng)變片技術(shù)具有的重復(fù)性和精確的三維輪廓測量
零復(fù)位誤差
無各向同性影響
六向測量能力
測針測量距離達100mm（GF測針）
快速測頭模塊交換，無需重新標定測尖
壽命>1000萬次觸發(fā)
TP200/TP200B測頭本體TP200
TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和精確的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。
傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性，并且消除了機械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數(shù)百萬次觸發(fā)中的可靠操作。
TP200B采用的技術(shù)與TP200相同，但允許更高的振動公差。這有助于克服因坐標測量機傳導(dǎo)振動或在移動速度很高的情況下使用長測針所引發(fā)的誤觸發(fā)問題。
請注意：我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄式/星形測針。
