納米晶體材料是由單一元素(碳)組成的,屬等軸晶系.晶體形態(tài)、無色透明度強(qiáng)、金屬光澤，是目前發(fā)現(xiàn)的最硬礦物質(zhì)之一。
塞規(guī)用途
判定孔類尺寸合格與否的量具，兩端分別為通端和止端。使用時(shí)，通端能通過孔，而止端不能通過（一般允許塞進(jìn)不超過止端長度的1/3）則該孔尺寸可判定為合格。
塞規(guī)規(guī)格
光面塞規(guī)規(guī)格：Φ1mm-Φ340mm，可接受訂做特殊塞規(guī)
產(chǎn)品編號(hào) | 規(guī)格 mm | 詳細(xì)規(guī)格 | 精度 | |||
G002-1～G002-2 | 1.0～2.0 | 間隔0.1 | H6 | H7 | H8 | |
G002-2.1～G002-3.0 | 2.1～3.0 | 間隔0.1 | ||||
G002-3.1～G002-6.0 | 3.1～6.0 | 間隔0.1 | ||||
G002-6～G002-14 | 6～14 | 間隔1 | ||||
G002-15～G002-18 | 15～18 | 間隔1 | ||||
G002-19～G002-24 | 19～24 | 間隔1 | ||||
G002-25～G002-30 | 25～30 | 間隔1 | ||||
G002-31～G002-38 | 31～38 | 間隔1 | ||||
G002-39～G002-44 | 39～44 | 間隔1 | ||||
G002-45～G002-50 | 45～50 | 間隔1 | ||||
G002-51～G002-60 | 51～60 | 間隔1 | ||||
G002-61～G002-70 | 61～70 | 間隔1 | ||||
G002-71～G002-90 | 71～90 | 間隔1 | ||||
G002-91～G002-110 | 91～110 | 間隔1 | ||||
G002-111～G002-135 | 111～135 | 間隔1 | ||||
G002-136～G002-160 | 136～160 | 間隔1 | ||||
G002-161～G002-185 | 161～185 | 間隔1 | ||||
G002-186～G002-210 | 186～210 | 間隔1 | ||||
G002-211～G002-240 | 211～240 | 間隔1 | ||||
G002-241～G002-270 | 241～270 | 間隔1 | ||||
G002-271～G002-300 | 271～300 | 間隔1 | ||||
G002-301～G002-325 | 301～325 | 間隔1 | ||||
G002-326～G002-340 | 326～340 | 間隔1 | ||||
塞規(guī)的使用方法
1、使用前先檢查塞規(guī)測(cè)量面，不能有銹跡。丕鋒、劃痕、黑斑等；塞規(guī)的標(biāo)志應(yīng)正確清楚。
2、塞規(guī)的作用必須在周期檢定期內(nèi)，而且附有檢定合格證或標(biāo)記，或其它足以證明塞規(guī)是合格的文件。
3、塞規(guī)測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)條件：溫度為20°C，測(cè)力為0 。在實(shí)際使用中很難達(dá)到這一條件要求。為了減少測(cè)量誤差，盡量使用塞規(guī)與被測(cè)件在等溫條件下進(jìn)行測(cè)量，使用的力要盡量小，不允許把塞規(guī)用力往孔里推或一邊旋轉(zhuǎn)一邊往里推。
4、測(cè)量時(shí)，塞規(guī)應(yīng)順著孔的軸線插入或拔出，不能傾斜；塞規(guī)塞入孔內(nèi)，不許轉(zhuǎn)動(dòng)或搖晃塞規(guī)。
5、不允許用塞規(guī)檢測(cè)不清潔的工件。
