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蔡司ABIS II檢測(cè)儀
使用模塊化探頭實(shí)現(xiàn)客觀、快速的測(cè)量
ABIS II可用于檢測(cè)各種缺陷類型。該系統(tǒng)可對(duì)凹痕、凹凸、凹陷、波紋、收縮、裂縫進(jìn)行可靠的早期識(shí)別和分類，它是生產(chǎn)鈑金零件和白車身的質(zhì)量控制儀器。用戶尤其可從高精度和極短的循環(huán)時(shí)間中獲益。ABIS II的模塊化探頭技術(shù)具有*的靈活性。通過(guò)可選的集成對(duì)比探頭，它還可以用于檢測(cè)對(duì)比度敏感的缺陷，例如：粘合劑殘留物、劃痕和污垢。
可選探頭:
可選軟件:
產(chǎn)品詳情
在整個(gè)流程鏈中持續(xù)分析表面質(zhì)量
許多汽車行業(yè)的用戶依賴整個(gè)流程鏈中的集成表面質(zhì)量分析。經(jīng)過(guò)單個(gè)零件、組裝和陰極浸涂的每個(gè)流程步驟之后，通過(guò)相同的檢查應(yīng)用再次檢查各個(gè)零件，以識(shí)別可能影響面漆質(zhì)量的任何表面缺陷。在每個(gè)流程步驟之后記錄缺陷的發(fā)展。生產(chǎn)中的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)表明，在流程步驟之后，表面缺陷的相關(guān)性可以增加或減少。
基于流程范圍的質(zhì)量分析，所需的返工需在零件所需的位置和所需的流程步驟上精確完成。這提高了精加工區(qū)域的效率并且極大地節(jié)省了成本。除了在整個(gè)流程鏈中形成表面缺陷外，生產(chǎn)期內(nèi)與時(shí)間相關(guān)的變化也為用戶提供了有關(guān)質(zhì)量變化的重要信息。例如，當(dāng)審計(jì)值惡化時(shí)，可以在生產(chǎn)稍后需要返工的*件之前的早期階段采取校正措施（例如：壓力機(jī)參數(shù)或模具表面）。
