一、武漢LED半導體高低溫冷熱沖擊試驗箱用途
高低溫沖擊實驗箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)*的測試設(shè)備,用于測試材料結(jié)構(gòu)或復合材料,在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度,得以在zui短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。冷熱沖擊試驗箱滿足的試驗方法:GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低溫沖擊試驗。
二、武漢LED半導體高低溫冷熱沖擊試驗箱特點
高低溫沖擊試驗箱根據(jù)試驗需求及測試標準分為三箱式和兩箱式,區(qū)別在于試驗方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同。三箱式分為蓄冷室,蓄熱室和試驗室,產(chǎn)品在測試時是放置在試驗室。兩箱式分為高溫室和低溫室,是通過電機帶動提籃運動來實現(xiàn)高低溫的切換,產(chǎn)品放在提籃里,是隨提籃一起移動的。
1)*的造型設(shè)計,操作簡易之面板接口
2)采用日制*彩色觸控LCD中/英微電腦溫濕度控制器。
3)具有程序建文件及檔案管理之功能。
4)無紙式記錄功能,具實時顯示溫度沖擊試驗變化之曲線圖及記錄雙重功能。
5)冷熱沖擊機械移動時間在10秒內(nèi),可符合MIL,IEC,JIS等規(guī)范。
6)冷熱沖擊溫度恢復時間在5分鐘內(nèi),可符合相關(guān)試驗規(guī)范。
7)采用HFC環(huán)保冷媒,二元超低溫冷凍系統(tǒng)設(shè)計,降溫快效率高。
8)*的中/英文版聯(lián)機操作、設(shè)定、記錄軟件包。
9)可擴充:1、溫度記錄器2、LN2快速降溫控制系統(tǒng)
設(shè)備滿足以下標準
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗A:低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗B:高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則
GJB 150.3A-2009 實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分:高溫試驗
GJB 150.4A-2009 實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分:低溫試驗
GJB 150.5A-2009 實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分:溫度沖擊試驗
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗