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武漢半導體高低溫低氣壓海拔高度試驗箱

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公司名稱廣東宏展科技有限公司
品牌
型號HA
所在地武漢市
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
更新時間 2021-07-15
訪問次數(shù)444

產(chǎn)品標簽:

高低溫低氣壓試驗箱高低溫海拔試驗箱高低溫低氣壓海拔試驗高低溫高度試驗箱高低溫低氣壓測試箱

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公司介紹主營產(chǎn)品

廣東宏展科技有限公司（www.oven.cc）致力于環(huán)境可靠性試驗設(shè)備的研發(fā)、制造和銷售；產(chǎn)品包括：高低溫濕熱試驗箱、快速溫度循環(huán)試驗箱、溫度沖擊試驗箱、溫度濕度振動三綜合試驗箱、步入式環(huán)境試驗箱、高低溫低氣壓試驗箱、精密烘箱、非標環(huán)境試驗設(shè)備定制產(chǎn)品等；每年產(chǎn)銷近千臺環(huán)境試驗設(shè)備，公司在中國各地設(shè)有多處負責銷售和維修服務(wù)點。

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高低溫（濕熱）試驗箱,小型高低溫（濕熱）試驗箱,高低溫沖擊試驗箱,步入式高低溫（濕熱）試驗室

產(chǎn)品簡介在線詢價

武漢半導體高低溫低氣壓海拔高度試驗箱國防工業(yè)，航天工業(yè)自動化零組件，汽車部件，電子、電器零組件，塑料、化工業(yè)，食品業(yè)，制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品在高低溫低氣壓單項或同時作用下，模擬高海拔、高空、（高原地區(qū)）氣候進行貯存運用、運輸可靠性試驗，并可同時對試件通電進行電氣性能參數(shù)的測試。

武漢半導體高低溫低氣壓海拔高度試驗箱產(chǎn)品信息

武漢半導體高低溫低氣壓海拔高度試驗箱

型號		HA252		HA504	HA1000	HA2016
性能參數(shù)	溫度范圍	-70～＋150℃
	溫度波動度	±0.5℃（常壓空載）
	溫度均勻度	≤2℃（常壓空載）
	溫度偏差	±2℃（常壓空載）
	升溫時間（20～＋150℃）	≤60min		≤60min	≤50min		≤60min
	降溫時間（20～-60℃）	≤90min		≤80min	≤60min		≤80min
	氣壓范圍	常壓～1KPa		常壓～0.5KPa
	壓力精度	±2KPa（常壓～40KPa時）；±5％（40KPa～4KPa時）；±0.1KPa（4KPa～1KPa時）
	降壓速率	≤45min（常壓→1KPa）
結(jié) 構(gòu)	外殼	冷軋鋼板表面噴塑
	內(nèi)膽	不銹鋼板
制冷	制冷方式	水冷
	制冷機	進口壓縮機
觀察窗（mm）		200×300mm（寬×高）
溫度傳感器		鎧裝鉑電阻
壓力傳感器		硅電阻壓力變送器
控制器		西門子PLC模塊（含宏展環(huán)境試驗設(shè)備嵌入式PLC控制軟件V1501）+7英寸彩色液晶觸摸控制屏（含宏展環(huán)境試驗設(shè)備嵌入式觸摸屏控制軟件V1501）
數(shù)據(jù)存儲與功能接口		USB數(shù)據(jù)接口：設(shè)備帶有USB儲存接口，存儲信息包括試驗時間、試驗?zāi)繕酥岛驮囼瀸崪y值等主要運行參數(shù)，存儲格式為.csv格式，此文件可由宏展公司上位機通訊軟件直接生成曲線，該USB接口不支持熱插拔及下載功能，如要用U盤存儲試驗數(shù)據(jù)，需一直讓U盤處于正常聯(lián)接狀態(tài)； TCP/IP通訊接口：試驗箱帶有RJ45數(shù)據(jù)接口，后期如購買上位機通訊功能后（含宏展環(huán)境試驗設(shè)備嵌入式計算機監(jiān)控軟件V1501），即可聯(lián)接此接口以實現(xiàn)計算機管理功能，單臺試驗箱支持5臺計算機同時訪問、上位機軟件*大可管理32臺試驗箱
內(nèi)部尺寸(mm)		D	600	700	1000				1200
		W	600	800	1000				1400
		H	700	900	1000				1200
外部尺寸(mm)		D	1800	2750	3250				3710
		W*	1000	1500	1400				1810
		H	1880	1900	2000				2310
裝機功率		19KVA		19.3KVA	32.5KVA			51KVA
電源		AC380V 50Hz三相四線制+接地線
標準配置		產(chǎn)品使用說明書1份、試驗報告1份、合格證及質(zhì)量保證書各1份、擱板2塊、擱條4根。
滿足標準		GJB 150.2、GJB 150.3、GJB 150.4、GJB 150.6、GB/T 2423.1、GB/T 2423.2、GB/T 2423.21

武漢半導體高低溫低氣壓海拔高度試驗箱
國防工業(yè)，航天工業(yè)自動化零組件，汽車部件，電子、電器零組件，塑料、化工業(yè)，食品業(yè)，制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品在高低溫低氣壓單項或同時作用下，模擬高海拔、高空、（高原地區(qū)）氣候進行貯存運用、運輸可靠性試驗，并可同時對試件通電進行電氣性能參數(shù)的測試。

設(shè)備滿足以下標準
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 10586 -2006 濕熱試驗箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫
GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗
GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）
GB/T 2423.22-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法總則
GJB 150.2A-2009 實驗室環(huán)境試驗方法第2部分：低氣壓（高度）試驗
GJB 150.3A-2009 實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗
GJB 150.4A-2009 實驗室環(huán)境試驗方法第4部分：低溫試驗
GJB 150.6-1986 實驗室環(huán)境試驗方法溫度-高度試驗
*安裝濕度模塊后，還可滿足以下標準：
GJB 150.19-1986 溫度-濕度-高度試驗
GJB 150.24A-2009實驗室環(huán)境試驗方法第24部分：溫度-濕度-振動-高度試驗
GB/T 2423.27-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Z/AMD 低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗