蔡司SIGMA FE-SEM用于高質量成像和高級分析顯微鏡

　　蔡司Sigma 300具有**的價格和性能。借助ZEISS Sigma 500一*的EDS幾何結構，可以快速，方便地完成元素分析。依靠精確，可重復的結果–每次都能從任何樣品中獲得結果。

　　靈活的檢測4步驟工作流程，高級分析

　　將場發(fā)射SEM(FE-SEM)技術與分析相結合。受益于久經(jīng)考驗的雙子座電子光學器件。從多種檢測器選項中進行選擇：材料科學中的圖像顆粒，表面和納米結構，研究半導體或醫(yī)療設備，地質或生物樣品。Sigma的半自動4步工作流程可節(jié)省時間：結構化成像和分析程序并提高生產率。研究和工業(yè)實驗室中所有學科的FE-SEM用戶現(xiàn)在都受益于ZEISS Sigma 500在1 kV下1.3 nm的分辨率和更好的可用性。

　　靈活檢測清晰圖像

　　使用*新的檢測技術根據(jù)您的需求定制Sigma，并對所有樣品進行表征。

　　使用環(huán)形背向散射檢測器(aBSD)表征成分，晶體學和表面形貌。在所有真空條件下，它都能提供出色的低kV圖像。受益于更高的靈敏度，更高的信噪比和更快的速度。

　　享受新一代的二次電子(SE)檢測器。在可變壓力模式下受益于Sigma的C2D和VPSE檢測器：在低真空下工作，您可以得到清晰的圖像，對比度*高可提高85%。

　　自動化并加快工作流程

　　4個步驟的工作流程使您可以控制Sigma的所有功能。受益于快速的成像時間并節(jié)省了培訓時間-尤其是在多用戶環(huán)境中。

　　首先，瀏覽樣品，然后設置*佳成像條件。

　　接下來，利用感興趣區(qū)域(ROI)自動獲取多個樣本中的圖像。最后，使用工作流程的后一步對結果進行上下文可視化。

　　最后，SmartSEM Touch收集并以交互式地圖的形式顯示您的數(shù)據(jù)，以便您可以*理解樣品。

　　執(zhí)行高級分析顯微鏡

　　結合掃描電子顯微鏡和元素分析：Sigma一*的EDS幾何形狀可提高您的分析效率，尤其是在對光束敏感的樣品上。

　　以一半的探針電流和兩倍的速度獲得分析數(shù)據(jù)。

　　在您的FE-SEM中實現(xiàn)完整，無陰影的分析。使用8.5 mm的短分析工作距離和35°的起飛角，可從中獲利