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    產品|二手機|公司|采購|資訊

    TFMS-LD反射光譜薄膜測厚儀

    參考價面議
    具體成交價以合同協(xié)議為準
    • 公司名稱沈陽科晶自動化設備有限公司
    • 品       牌沈陽科晶/KEJING
    • 型       號
    • 所  在  地
    • 廠商性質生產廠家
    • 更新時間 2021-03-15
    • 訪問次數358
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    沈陽科晶自動化設備有限公司是由畢業(yè)于美國麻省理工學院的江曉平博士于2000年5月創(chuàng)建。與合肥科晶材料技術有限公司、深圳市科晶智達科技有限公司同屬于科晶聯盟。自*SYJ-150低速金剛石切割機誕生以來,沈陽科晶便開始了以趕超國外同行、材料分析設備潮流為目標的發(fā)展歷程。時至今日,已經擁有涵蓋材料切割、研磨、拋光、涂膜、鍍膜、混合、壓軋、燒結、分析等領域以及相關耗材的上百種產品,可以滿足晶體、陶瓷、玻璃、巖相、礦樣、金屬材料、耐火材料、復合材料、生物材料等制備分析的全套需要。  沈陽科晶立足國內市場實際情況,以提供實用的產品為己任。產品的質量、精度在向國外企業(yè)看齊的基礎上,產品的價格定位卻僅僅是其幾分之一。的性價比不僅吸引了眾多國內客戶,而且令挑剔的外國客商也稱贊不已,產品遠銷于印度、馬來西亞、土耳其、波蘭、突尼斯、澳大利亞等國家,并大量出口于美國。  沈陽科晶一直致力于高等院校、研究所、生產企業(yè)的科研服務,即產品定位于研究市場,主要面向廣大高等院校、科研機構、實驗室以及工廠的小規(guī)模生產。多年以來,已與全國眾多高校、研究院所建立了良好的合作、服務關系。其中北京大學、清華大學、浙江大學、哈爾濱工業(yè)大學、東北大學等高校,*金屬研究所、上海硅酸鹽研究所、中國科學地質與地球物理研究所等科研機構,中國航天工業(yè)集團公司、中國船舶重工集團公司、攀鋼集團有限公司等*企業(yè)都是*合作的榮譽客戶。  沈陽科晶為了更好地服務客戶,專門設立了開放式專業(yè)實驗室,配備了優(yōu)秀的專業(yè)技術人員。在這里,不僅可以提供親身的產品體驗環(huán)境,而且還可得到專業(yè)人員的操作指導。開設以來,制作的樣品達上千件,接待來訪客戶參觀百余次,其中包括多次外國友人的來訪。在此,沈陽科晶全體員工誠摯地歡迎您的到來,并希望您能提出寶貴的意見與建議。此外,沈陽科晶擁有優(yōu)質、高效、專業(yè)的銷售咨詢、售后服務團隊,能夠為每一位客戶提供采購建議與方案、完善的使用指導與售后服務。使每一位客戶的需求得到滿足是沈陽科晶每個員工不懈努力的目標。  沈陽科晶一路走過的歷程,是為我國材料研究事業(yè)全力貢獻的歷程,是以實際行動將自己打造成國內材料分析設備的歷程,是與國外同行不斷縮小差距的歷程,是與廣大客戶相扶相持的成長歷程。雖一路充滿坎坷與荊棘,但堅持不懈的沈陽科晶人仍全力以赴的前行。秉承這份堅持,相信在不久的將來,沈陽科晶也將會成為市場上專業(yè)的、杰出的材料分析設備品牌,沈陽科晶的明天會更加燦爛輝煌。
    測厚儀,金相顯微鏡,維氏硬度計,表面粗糙度儀
    TFMS-LD反射光譜薄膜測厚儀
    TFMS-LD反射光譜薄膜測厚儀 產品信息

    產品簡介:TFMS-LD反射光譜薄膜測厚儀是一款利用反射光譜測試薄膜厚度的儀器,可快速精確地測量透明或半透明薄膜的厚度而不損傷樣品表面的薄膜是一款無損測厚儀,其測量膜厚范圍為15nm-50um測量膜厚范圍廣,尤其適用于超薄薄膜厚度的測量。儀器所發(fā)出測試光的波長范圍為400nm-1100nm,波長范圍廣,因此,測試薄膜厚度的范圍廣TFMS-LD反射光譜薄膜測厚儀測試系統(tǒng)理論基礎為鏡面纖反射探頭,該儀器尺寸小巧可節(jié)省實驗室空間操作方便,讀數直觀,方便于在實驗室中擺放和使用。

     

    產品名稱

      TFMS-LD反射光譜薄膜測厚儀

    產品型號

    TFMS-LD

    測量膜厚范圍

    15nm-50um

    光譜波長

    400 nm - 1100 nm

    主要測量透明或半透明薄膜厚度

    氧化物

    氮化物

    光刻膠

    半導體(硅,單晶硅,多晶硅等)

    半導體化合物(ALGaAs,InGaAs,CdTe,CIGS等)

    硬涂層(碳化硅,類金剛石炭)

    聚合物涂層(聚對二甲苯,聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺)

    金屬膜

            

    特點

    測量和數據分析同時進行,可測量單層膜,多層膜,無基底和非均勻膜

    包含了500多種材料的光學常數,新材料參數也可很容易地添加,支持多重算法:Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等

    體積較小,方便擺放和操作

    可測量薄膜厚度,材料光學常數和表面粗糙度

    使用電腦操作,界面中點擊,即可進行測量和分析

    精度

    0.01nm或0.01%

    準確度

    0.2%或1nm

    穩(wěn)定性

    0.02nm或0.02%

    光斑尺寸

    標準3mm,可以小至3um

    要求樣品大小

    大于1mm

    分光儀/檢測器

    400 - 1100 nm 波長范圍

    光譜分辨率: < 1 nm

    電源 100 -250 VAC, 50/60 Hz 20W

    光源

    5W的鎢鹵素燈

    色溫:2800K

    使用壽命:1000小時

    反射探針

    光學纖維探針,400um纖維芯

    配有分光儀和光源支架

    載樣臺

    測量時用于放置測量的樣品

     

    通訊接口

    USB接口,方便與電腦對接

    TFCompanion軟件

    強大的數據庫包含兩500多種材料的光學常數(n:折射率,K:消失系數)

    誤差分析和模擬系統(tǒng),保證在不同環(huán)境下對樣品測量的準確性

    可分析簡單和復雜的膜系

     

    設備尺寸

    200x250x100mm

    重量

    4.5kg

    關鍵詞:測厚儀

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    編輯部:2056841617展會部:2056841617市場部:931681025
    沈陽科晶/KEJING
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