M-3手持式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試材料電阻率/方塊電阻的多用途、高性價比測量儀器。廣泛適用于半導(dǎo)體材料廠、科研單位、高等院校四探針法對導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測試。
操作視頻
產(chǎn)品型號 | M-3手持式四探針電阻率測試儀 | ||||||
主要特點 | 1、測試儀由M-3型主機(jī)和四探針探頭兩部分組成 2、手持式設(shè)計,帶完善厚度、形狀修正功能,測試精準(zhǔn) 3、寬量程:超寬五個檔位,相當(dāng)于中檔臺式機(jī)的量程 4、操作簡便、性能穩(wěn)定:輕觸數(shù)字化鍵盤實現(xiàn)參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換,LED數(shù)字表頭顯示 5、多款探頭可選,適用于各種不同材料的導(dǎo)電性能測試 | ||||||
技術(shù)參數(shù) | 1、工作電源 208-240V,50/60Hz;電池供電:DC3.7V 2、測量范圍、分辨率 電阻:0.010~50.00kΩ 分辨率:0.001~10 Ω 電阻率:0.010~20.00kΩ-cm 分辨率:0.001~10 Ω-cm 方塊電阻:0.050~100.00kΩ/m2 分辨率0.001~10Ω/m2 3、基本誤差:±1%FSB±2LSB 4、外形尺寸:210mm L × 100mm W × 36mm H 5、凈重:0.3kg | ||||||
可選配件 | 1探頭 根據(jù)不同材料特性需要,探頭可有多款選配 碳化鎢探針探頭(固體材料):測試硅等半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料(詳見圖1);球形或平頭鍍金銅合金探針探頭(薄膜):可測金屬箔、碳紙等導(dǎo)電薄膜,也可測陶瓷、玻璃或PE膜等基底上導(dǎo)電涂層膜,如金屬鍍膜、噴涂膜、ITO膜、電容卷積膜等材料的薄膜涂層(詳見圖2);探頭頭部安裝有平衡基座避免人手操作的誤差(詳見圖3)。
2、可選配快速恒壓四探針測試臺,對測試壓力進(jìn)行調(diào)節(jié)保證恒壓測試,提高測試的精確度 |