產(chǎn)品簡介：

電子半導體圖像法污染度分析系統(tǒng)是普勒新世紀實驗按照普洛帝分析儀器事業(yè)部的規(guī)劃，于2001年推向市場的成熟系統(tǒng)儀器；

觀察顆粒形貌，還可以得到粒度分布、數(shù)量、大小、平均長徑比以及長徑比分布等，為科研、生產(chǎn)領(lǐng)域增添了一種新的粒度測試手段。 

電子半導體圖像法污染度分析系統(tǒng) 優(yōu)勢：

測試軟件具有審計追蹤、權(quán)限管控、電子記錄、測試標準、計量驗證、報告模板、圖像存儲、顆粒追蹤、報告輸出、清潔度分析等功能；

全面自動標準選擇、顆粒尺寸設(shè)定、顆粒計數(shù)，或按用戶設(shè)定范圍計數(shù)，自動顯示分析結(jié)果，并按照相關(guān)標準確定產(chǎn)品等級；

將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現(xiàn)代的圖像處理技術(shù)結(jié)合的產(chǎn)物；

軟件控制分析過程，手動對焦，手動光強（顆粒清潔度測試必須人為干預進行），自動掃描，自動攝入，自動分析；

數(shù)字攝像機將顯微鏡的圖像拍攝及掃描；全自動膜片掃描系統(tǒng)，無縫拼接，數(shù)字化顯微鏡分析系統(tǒng)；

R232接口數(shù)據(jù)傳輸方式將顆粒圖像傳輸?shù)椒治鱿到y(tǒng)；

顆粒圖像分析軟件及平臺對圖像進行處理與分析；

引入3D遙感三維調(diào)控技術(shù)，快速定位，快速聚焦，體驗極速無卡頓測試。

顯示器及打印機輸出分析結(jié)果；

直觀、形象、準確、測試范圍寬以及自動識別、自動統(tǒng)計、自動標定等特點；

避免激光法的產(chǎn)品缺陷，擴展檢測范圍；

現(xiàn)實NAS、ISO等標準方法的認可；

提供行業(yè)*的“OIL17服務星”簽約式服務；

產(chǎn)品應用：

航空、航天、電力、石油、化工、交通、港口、冶金、機械、汽車制造、制冷、電子、半導體、工程機械、液壓系統(tǒng)等領(lǐng)域；

對各類固體粉末、各類液體中的固體顆粒（非連續(xù)相測試）。

執(zhí)行標準：

0.1~3000μm的超寬范圍、超高分辨率。

可根據(jù)客戶要求，植入相應“圖像法顆粒度”測試和評判標準。

技術(shù)參數(shù)：

產(chǎn)品型號：PLD-MPCS2.0

訂制要求：各類液體檢測要求；

測試范圍:  1μm-500μm

放大倍數(shù)：40X～l000X倍   

zui大分辨：0.1μm

顯微鏡誤差：0.02（不包含樣品制備因素造成的誤差）

重復性誤差：< 5%（不包含樣品制備因素造成的誤差）

數(shù)字攝像頭(CCD)：500萬~1800萬像素

分析項目：粒度分布、長徑比分布、圓形度分布等

自動分割速度：< 1秒

分割成功率：> 93%

軟件運行環(huán)境：Windows 10

接口方式：RS232或USB方式

精 確 度：<±3% 典型值；

重合精度：10000粒/mL（5%重合誤差）；

分 辨 率：>95%

售后服務：普洛帝中國服務中心/普研檢測。