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X射線熒光測(cè)厚儀

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公司名稱上海拓精工業(yè)測(cè)定儀器有限公司
品牌
型號(hào)
所在地
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
更新時(shí)間 2020-11-09
訪問次數(shù)341

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公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

上海拓精工業(yè)測(cè)定儀器有限公司，是一家具有獨(dú)立進(jìn)出口權(quán)的股份制責(zé)任有限公司，公司成立于2005年，公司自成立以來致力于不斷提高品質(zhì)檢測(cè)水平并秉承“誠(chéng)信合作，專業(yè)經(jīng)營(yíng)，”的經(jīng)營(yíng)理念，公司員工專業(yè)化，技術(shù)人員經(jīng)驗(yàn)豐富。我們還吸取了日本及歐美國(guó)家一些優(yōu)秀公司的*技術(shù)理念，利用堅(jiān)實(shí)的技術(shù)基礎(chǔ)，提供可靠的產(chǎn)品售前售中和售后服務(wù)；主要為汽車制造、航天航空業(yè)、第三方實(shí)驗(yàn)室、國(guó)家檢測(cè)機(jī)構(gòu)、高校院校研究所、化工制藥、醫(yī)療、能源等領(lǐng)域提供品質(zhì)檢測(cè)儀器設(shè)備、非標(biāo)自動(dòng)化檢測(cè)設(shè)備及相關(guān)技術(shù)服務(wù)。

拓精儀器是一家專業(yè)實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)分析儀器服務(wù)、銷售一體化股份制有限公司并同時(shí)代理檢測(cè)分析儀器，主要產(chǎn)品：實(shí)驗(yàn)室分析儀器、動(dòng)態(tài)分析檢測(cè)儀器、光學(xué)檢測(cè)分析儀器、材料試驗(yàn)機(jī)、X- ray檢測(cè)分析儀器、環(huán)境試驗(yàn)箱實(shí)驗(yàn)箱、實(shí)驗(yàn)室設(shè)備及工業(yè)儀器設(shè)備及耗材同時(shí)也為廣大客戶提供實(shí)驗(yàn)室綜合解決方案服務(wù)！公司的產(chǎn)品在眾多行業(yè)領(lǐng)域迅速推廣并得到客戶的認(rèn)可，公司將不斷的把*的檢測(cè)設(shè)備及工業(yè)制造設(shè)備以的方式傳達(dá)給我們的客戶，并幫助我們的客戶提高產(chǎn)品檢測(cè)能力和制造工藝。

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實(shí)驗(yàn)室分析儀器、動(dòng)態(tài)分析檢測(cè)儀器,光學(xué)檢測(cè)分析儀器,材料試驗(yàn)機(jī),X- ray檢測(cè)分析儀器,環(huán)境試驗(yàn)箱實(shí)驗(yàn)箱

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X射線熒光測(cè)厚儀

X射線熒光測(cè)厚儀產(chǎn)品信息

X-ray測(cè)厚儀原理是根據(jù)X-ray穿透被測(cè)物時(shí)的強(qiáng)度衰減來進(jìn)行轉(zhuǎn)換測(cè)量厚度的，即測(cè)量被測(cè)鋼板所吸收的X射線量，根據(jù)該X射線的能量值，確定被測(cè)件的厚度。由X射線探測(cè)頭將接收到的信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，經(jīng)過前置放大器放大，再由測(cè)厚儀操作系統(tǒng)轉(zhuǎn)換為顯示給人們以直觀的實(shí)際厚度信號(hào)。

X-ray XUL：

X-ray XULM：

X-ray XAN 220/222:

X-ray XAN 250/252：

X-ray XDLM:

X-ray XDAL:

X-ray XDV SDD:

X-ray XDV-µ:

XDV-u鍍層厚度測(cè)量?jī)x特點(diǎn)

優(yōu)化的微區(qū)分析測(cè)試儀器
根據(jù)X射線光學(xué)系統(tǒng)，可以對(duì)100 μm或更小的結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析
*的能量強(qiáng)度，從而實(shí)現(xiàn)出色的精度
即使對(duì)于薄鍍層，測(cè)量的不確定度也有可能做到 < 1 nm
只適用于平面的或是接近平面的樣品
底部C型開槽的大容量測(cè)量艙
通過快速、可編程的 XY 工作臺(tái)進(jìn)行自動(dòng)測(cè)量

XDV-u鍍層厚度測(cè)量?jī)x典型應(yīng)用領(lǐng)域

測(cè)量印刷線路板、引線框架和芯片上的鍍層系統(tǒng)
測(cè)量細(xì)小部件和細(xì)電線上的鍍層系統(tǒng)
分析微小結(jié)構(gòu)和微小部件的材料成分

X-ray XUV 733：

X-ray 4000：

X-ray 5000：

特點(diǎn)

法蘭測(cè)量頭，用于在生產(chǎn)線中進(jìn)行連續(xù)測(cè)量
X射線探測(cè)器可以為比例計(jì)數(shù)管，珀耳帖制冷的硅 PIN 或硅漂移探測(cè)器
在生產(chǎn)過程中直接用典型產(chǎn)品進(jìn)行快速簡(jiǎn)單校
可在真空或大氣中使用
可以在高 500° C 的高溫基材上進(jìn)行測(cè)量
堅(jiān)固和耐用是設(shè)計(jì)的重心

典型應(yīng)用領(lǐng)域

光伏技術(shù)（CIGS，CIS，CdTe）
分析對(duì)金屬帶、金屬薄膜和塑料薄膜上的鍍層
連續(xù)生產(chǎn)線
噴射和電鍍生產(chǎn)線監(jiān)測(cè)
測(cè)量大面積樣品

特點(diǎn)

用于在持續(xù)生產(chǎn)過程中對(duì)薄膜、軸帶和沖壓帶上的涂鍍層進(jìn)行連續(xù)測(cè)量
可按照樣品運(yùn)動(dòng)方向正確調(diào)整測(cè)量頭的角度
操作簡(jiǎn)單，設(shè)置時(shí)間短
X射線探測(cè)器可以為比例計(jì)數(shù)管，珀耳帖制冷的硅 PIN 或硅漂移探測(cè)器
有定位裝置，用于測(cè)量多個(gè)位置進(jìn)行測(cè)量
根據(jù)客戶需要專門設(shè)計(jì)
自動(dòng)校準(zhǔn)
可以快速地從一條生產(chǎn)線上轉(zhuǎn)移到另一條生產(chǎn)線
可方便地集成到質(zhì)量控制系統(tǒng)和過程控制系統(tǒng)中

典型應(yīng)用領(lǐng)域

電鍍條帶，例如接觸點(diǎn)、沖壓帶
測(cè)量熱鍍鋅鋼帶
太陽能薄膜電池（光伏產(chǎn)業(yè)
薄膜和條帶上的金屬涂鍍層
電子工業(yè)及其供應(yīng)商
生產(chǎn)過程監(jiān)控

特點(diǎn)

通用型高級(jí)儀器，可滿足各種測(cè)量需要
測(cè)量艙可以抽真空，并可以對(duì)自 Z = 11（Na）起的輕元素進(jìn)行分析
精確的、可編程的 XYZ 工作臺(tái)用于自動(dòng)測(cè)量
攝像頭用于樣品精確定位以及在細(xì)小部位上進(jìn)行測(cè)量

典型應(yīng)用領(lǐng)域

輕元素的測(cè)量分析
薄鍍層測(cè)量和痕量分析
通用材料分析及鑒定
非破壞性寶玉石分析
光伏產(chǎn)業(yè)

儀器特點(diǎn)

高級(jí)型號(hào)儀器，具有常見的所有功能
射線激發(fā)量的靈活性大，激發(fā)量可根據(jù)測(cè)量面積大小和光譜組成而改變
通過硅漂移探測(cè)器，在 > 10萬cps（每秒計(jì)數(shù)率）的超高信號(hào)量下也可以正常工作，而不會(huì)出現(xiàn)能量分辨率的降低
極低的檢測(cè)下限和出色的測(cè)量重復(fù)度
帶有快速、可編程 XY 工作臺(tái)的自動(dòng)測(cè)量?jī)x器
大容量便于操作的測(cè)量艙

典型應(yīng)用領(lǐng)域

測(cè)量極薄的鍍層，例如應(yīng)用于電子和半導(dǎo)體行業(yè)中
痕量分析，例如根據(jù) RoHS、玩具標(biāo)準(zhǔn)、包裝標(biāo)準(zhǔn)對(duì)有害物質(zhì)進(jìn)行檢測(cè)
進(jìn)行高精度的和貴金屬分析
光伏產(chǎn)業(yè)
測(cè)量 NiP 鍍層的厚度和成分

特點(diǎn)

配備了半導(dǎo)體探測(cè)器，由于有更好的信噪比，能更精確地進(jìn)行元素分析和薄鍍層測(cè)量
使用微聚焦管可以測(cè)量較小的測(cè)量點(diǎn)，但因?yàn)槠湫盘?hào)量較低，不適合測(cè)量十分細(xì)小的結(jié)構(gòu)
底部C型開槽的大容量測(cè)量艙
有彈出功能的快速、可編程XY平臺(tái)