產品簡介: HS2000型三維表面形貌儀是一款高速的三維形貌儀,采用的白光共聚焦線光源技術,可實現(xiàn)對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度超快測試,具有測量精度高,速度快,重復性好的優(yōu)點,該儀器可用于測量大尺寸樣品,并具有多種選項,包含360°旋轉工作臺,原子力顯微鏡模塊,光學顯微鏡,特征區(qū)域定位等多種功能模塊。 產品原理:采用白光共聚焦色差技術,可獲得納米級的分辨率 - 利用白光點光源,光線經過透鏡后產生色差,不同波長的光分開后入射到被測樣品上。 - 位于白光光源的對稱位置上的超靈敏探測器系統(tǒng)用來接收經被測點漫反射后的光。 - 根據準共聚焦原理,探測器系統(tǒng)只能接收到被測物體上單點反射回來的特定波長的光,從而得到這個點距離透鏡的垂直距離。 - 再通過點掃描的方式可得到一條線上的坐標,即X-Z坐標 - 后以S路徑獲得物體每個點的三維X-Y-Z坐標 - 后將采集的三維坐標數(shù)據交給專業(yè)的三維處理軟件進行各種表面參數(shù)的分析。 - 軟件能夠自動獲取用戶關心的表面形貌參數(shù)。 產品特性: - 采用白光共聚焦色差技術,可獲得納米級的分辨率 主要功能: - 可創(chuàng)建任意區(qū)域的2D曲線圖或2D等高線分布圖; - 可創(chuàng)建任意區(qū)域的3D圖像; - 自動得到樣品的一維線粗糙度參數(shù)(Ra,Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Rq,Rsk,Rku); - 自動得到樣品的二維面粗糙度(Sa,Sp,Sq,Sv,Sz,Ssk,Sku); - 可得到樣品的平整度,波紋度等參數(shù); - 自動校準功能,例如粗糙度,一般情況下對于曲面樣品,首先展平,然后自動給出粗糙度的參數(shù); - 具有尺寸測量:長度,寬度,角度,深度,臺階高度; - 可測孔洞磨損面積,磨損體積等參數(shù); - 具有功率譜密度測試功能; - 具有分形統(tǒng)計功能; ...... 主要技術參數(shù): - Z方向大測量范圍:27mm 產品應用: MEMS、半導體材料、太陽能、摩擦磨損、汽車、腐蝕、砂紙、巖石等。
- 測量具有非破壞性,測量速度快,精確度高
- 測量范圍廣,可測透明、金屬材料,半透明、高漫反射,低反射率、拋 光、粗糙材料(金屬、玻璃、木頭、合成材料、 光學材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發(fā)、牙齒…);
- 尤其適合測量高坡度高曲折度的材料表面
- 不受環(huán)境光的影響
- 測量簡單,樣品無需特殊處理
- Z方向測量范圍大:為27mm
- XY全自動大掃描范圍:500×400(mm)
- XY掃描步長:0.1μm
- 大掃描速度:500mm/s
- Z方向測量分辨率:2nm
HS2000型超高速三維表面形貌儀
參考價 | 面議 |
- 公司名稱微納(香港)科技有限公司
- 品 牌
- 型 號
- 所 在 地
- 廠商性質經銷商
- 更新時間 2020-08-19
- 訪問次數(shù)399