LAS X 晶粒專(zhuān)家軟件：擁有出眾準(zhǔn)確性和再現(xiàn)性的晶粒分析
LAS X 晶粒專(zhuān)家模塊所提供的成像環(huán)境允許用戶(hù)快速分析鋼和其他材料的結(jié)構(gòu)。大量的結(jié)構(gòu)和樣品類(lèi)型可以使用高度精確的邊緣檢測(cè)算法進(jìn)行研究。
此外，該軟件模塊還包括傳統(tǒng)的體視學(xué)方法，如 Heyn 線(xiàn)性截距、杰弗里斯平面和 Abrams 3 圈步驟。這些方法將被自動(dòng)應(yīng)用，用于直接計(jì)算晶粒尺寸。傳統(tǒng)的體視學(xué)方法是通過(guò)一維方法估計(jì)晶粒尺寸，而LAS X 晶粒專(zhuān)家則是應(yīng)用特定的二維算法直接測(cè)量晶粒面積。與傳統(tǒng)的非數(shù)字方法相比，這種特殊方法可實(shí)現(xiàn)較高精度。
LAS X 晶粒專(zhuān)家涵蓋面向金相學(xué)晶粒尺寸分析的多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)，如 ASTM E112、DIN/EN/ISO 643、GOST 5639 和 JIS G0551。上文提到的主要標(biāo)準(zhǔn)中，還包括了衍生或相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，如 ASTM E1382 或 ASTM E930，它們只描述用于晶粒尺寸分析的不同技術(shù)方法。
LAS X 相位專(zhuān)家軟件：可將檢測(cè)精度高提至 250 倍
LAS X 相位專(zhuān)家模塊便于對(duì)多相和微觀結(jié)構(gòu)組分進(jìn)行高級(jí)分析。它可自動(dòng)、精確地測(cè)量金屬、礦物和其他材料的面積百分比。
使用高位深或 HDR 圖像，高度精確的檢測(cè)算法方便對(duì)相位進(jìn)行研究，顯示所獲取圖像中的細(xì)微差別。在傳統(tǒng)圖像中，位深檢測(cè)分辨率*于 256 個(gè)強(qiáng)度級(jí)別，而 LAS X 相位專(zhuān)家可將檢測(cè)精度提高 250 倍以上。
軟件算出的結(jié)果通常被計(jì)算為所觀察微觀結(jié)構(gòu)中各個(gè)相位的百分比。除了傳統(tǒng)的相位分析，該軟件還提供了額外的樣本測(cè)量功能以及對(duì)各種其他幾何和形態(tài)參數(shù)進(jìn)行評(píng)估的功能。
LAS X 2D 分析軟件：可針對(duì)您的特定需求調(diào)整樣本分類(lèi)
LAS X 2D 分析模塊專(zhuān)為結(jié)合高靈活性與精確樣本和區(qū)域測(cè)量而開(kāi)發(fā)，同時(shí)根據(jù)用戶(hù)的特殊需求定制自動(dòng)化分析。各種樣本和特征，如顆粒、粉末、纖維、空隙、孔隙度等，可以根據(jù)幾何形狀和形態(tài)特征以及物理性質(zhì)，如亮度或顏色進(jìn)行分析。
已被識(shí)別的樣本可根據(jù) LAS X 2D 分析模塊中的可用參數(shù)進(jìn)行分類(lèi)。該軟件不限于傳統(tǒng)的方法，其還提供了一個(gè)允許您創(chuàng)建自定義參數(shù)的可編程分類(lèi)器。您只需單擊鼠標(biāo)即可選擇一個(gè)或多個(gè)類(lèi)的幾個(gè)樣本，2D 分析模塊便可自動(dòng)確定所有相關(guān)參數(shù)。一旦建立特定分類(lèi)器，在將來(lái)的分析中用戶(hù)交互將降至低。
LAS X 多通道分析選項(xiàng)允許并行檢測(cè)和分類(lèi)樣本，并提供一系列邏輯運(yùn)算符 (AND、OR、XOR 等)，從而允許您將單個(gè)結(jié)果進(jìn)行組合以獲得多個(gè)測(cè)量組合。
這組強(qiáng)大的分析功能使得 LAS X 2D 分析/多通道分析模塊成為在質(zhì)量控制和高級(jí)研究中執(zhí)行多種任務(wù)的理想工具。
LAS X 分劃板軟件：通過(guò)數(shù)字投影實(shí)現(xiàn)的出色人機(jī)工效學(xué)
針對(duì)測(cè)量和基于視覺(jué)比較的分析，傳統(tǒng)的目鏡測(cè)微尺在長(zhǎng)時(shí)間使用后會(huì)導(dǎo)致眼睛疲勞，同時(shí)結(jié)果精度也差。數(shù)字分劃板在人體工效學(xué)方面對(duì)此有了顯著的改善，并幫助用戶(hù)隨著時(shí)間的推移保持一致的測(cè)量精度。若要記錄通過(guò) LAS X 分劃板執(zhí)行的分析，用戶(hù)可以將它們另存為各分析圖像或感興趣區(qū)域中的電子層。
數(shù)字分劃板可將感興趣的特征直接投射在顯示器所顯示的圖像中。它可通過(guò)簡(jiǎn)單的單擊鼠標(biāo)來(lái)進(jìn)行切換，而不需要物理改變光學(xué)組件。除了可提供更愉悅和省時(shí)的工作環(huán)境，LAS X 分劃板模塊也比傳統(tǒng)解決方案更具成本效益。它無(wú)需購(gòu)買(mǎi)單獨(dú)的分劃板或目鏡和分劃板組合。該應(yīng)用程序可提供超過(guò) 50 個(gè)數(shù)字分劃板文件，其中包括用于符合各種標(biāo)準(zhǔn)的相位分析、晶粒尺寸分析和非金屬夾雜物評(píng)定的具體解決方案。您還可以編輯數(shù)字分劃板文件和使用開(kāi)源繪圖軟件來(lái)設(shè)計(jì)其他文件。
LAS X 鑄鐵專(zhuān)家軟件：球墨鑄鐵或蠕墨鑄鐵的結(jié)構(gòu)分析
LAS 鑄鐵專(zhuān)家模塊提供了一種用于對(duì)鑄鐵中石墨微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行快速分析的特定環(huán)境，如球墨鑄鐵或蠕墨鑄鐵。
與基于比較的傳統(tǒng)方法不同，LAS X 鑄鐵專(zhuān)家自動(dòng)確定石墨球的類(lèi)型、形狀、尺寸和分布。使用該模塊執(zhí)行的分析符合各個(gè)標(biāo)準(zhǔn)中描述的程序。此外，獲得的結(jié)果也可根據(jù)這些相同的標(biāo)準(zhǔn) (ASTM A247、ISO 945-2、JIS G 5502) 表示。
除了對(duì)蝕刻樣品上的石墨球進(jìn)行分析外，該軟件也有助于確定鐵素體/珠光體的比率。利用高位深或 HDR 圖像和高級(jí)相差觀察方法，LAS X 鑄鐵專(zhuān)家模塊的*檢測(cè)算法允許并行對(duì)石墨、鐵素體和珠粒體進(jìn)行快速分析。此外，該軟件還可用于評(píng)估各種其他幾何和形態(tài)參數(shù)。
LAS X 金相工具箱：面向基于體視學(xué)的結(jié)構(gòu)分析的靈活易用工具
LAS X 金相工具箱是一種附加組件，其可增強(qiáng) LAS X 2D 測(cè)量模塊的功能，從而使其成為一種用于金相/冶金樣品體視學(xué)分析的多功能工具箱。另外，它也可轉(zhuǎn)變?yōu)閺V泛應(yīng)用于金相學(xué)與材料科學(xué)的專(zhuān)業(yè)工具。
它簡(jiǎn)化了定義校準(zhǔn)測(cè)量參數(shù)時(shí)所涉及的需手動(dòng)進(jìn)行的任務(wù)，如基線(xiàn)長(zhǎng)度、線(xiàn)性截距、點(diǎn)計(jì)數(shù)、圓弧或多層涂層厚度。
它使對(duì)測(cè)量值進(jìn)行各類(lèi)別分配和對(duì)相關(guān)參數(shù)進(jìn)行比較分析成為可能。因此，其可生成組分和相位特定的結(jié)果。
LAS X 脫碳專(zhuān)家模塊：熱處理鋼中表面碳消耗的結(jié)構(gòu)分析
LAS X 脫碳專(zhuān)家模塊是一種用于分析鋼回火或熱硬化所導(dǎo)致的碳消耗的特定環(huán)境。碳消耗或脫碳會(huì)影響性能，進(jìn)而影響回火鋼的質(zhì)量。LAS X 脫碳專(zhuān)家對(duì)功能性脫碳深度進(jìn)行分析，使原材料性能在此深度不受影響。
選擇高級(jí)圖像預(yù)處理過(guò)濾器還可以幫助用戶(hù)克服來(lái)自樣品制備和蝕刻的偽像。
高級(jí)分析算法將材料提供的參數(shù)和產(chǎn)品規(guī)格自動(dòng)關(guān)聯(lián)，并計(jì)算終結(jié)果。軟件*自動(dòng)工作，而操作員亦可隨時(shí)與之交互。
LAS X 脫碳專(zhuān)家軟件涵蓋用于確定鋼脫碳深度的多個(gè)標(biāo)準(zhǔn) (ASTM 1077、DIN 50192、ISO/DIN/EN 3887、JIS G0558 等)。
