產品描述
TP200具有模塊交換功能的超小型測頭，它使用應變片機構，比機械結構式觸發(fā)測頭的壽命更長、精度更高。TP200采用微應變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的測量重復性和精確的3D空間形狀測量精度，即使配用長測針時也不例外。傳感器技術提供亞微米級的重復性，并且消除了機械結構式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數(shù)百萬次觸發(fā)中的可靠操作。
TP200B采用的技術與TP200相同，但允許更高的振動公差。這有助于克服因坐標測量機傳導振動或在移動速度很高的情況下使用長測針所引發(fā)的誤觸發(fā)問題。請注意，我們不*TP200B配用LF模塊或曲柄/星形測針。
| TP200系統(tǒng)組件包括: TP200或TP200B測頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動公差） TP200測針模塊 — 選擇固定越程測力：SF（標準測力）或LF（低測力） PI 200-3測頭接口 SCR200測針交換架 還有一種EO模塊（擴展越程），越程測力與SF相同，但工作范圍更大，并在測頭Z軸方向提供保護。 特性與優(yōu)點: |  |
規(guī)格摘要 | TP200 | TP200B |
|---|---|---|
主要應用 | 用于需要高精度的數(shù)控坐標測量機。 | 與TP200一樣，但是用在出現(xiàn)誤觸發(fā)事件的場合。 |
感應方向 | 六軸：±X、±Y、±Z | 六軸：±X、±Y、±Z |
單向重復性 (2s μm) | 電平觸發(fā)1：0.40 μm 電平觸發(fā)2：±0.50 μm | 電平觸發(fā)1：0.40 μm 電平觸發(fā)2：±0.50 μm |
XY（2D）輪廓測量偏差 | 電平觸發(fā)1：0.80 μm 電平觸發(fā)2：±0.90 μm | 電平觸發(fā)1：±1 μm 電平觸發(fā)2：±1.2 μm |
XYZ (3D) 輪廓測量偏差 | 電平觸發(fā)1：±1 μm 電平觸發(fā)2：±1.40 μm | 電平觸發(fā)1：±2.50 μm 電平觸發(fā)2：±4 μm |
測針交換的重復性 | SCR200：±0.50 μm（*大） 手動：±1 μm（*大） | SCR200：±0.50 μm（*大） 手動：±1 μm（*大） |
測力（測尖） | XY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 N | XY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 N |
越程測力（位移為0.50 mm時） | XY平面（SF / EO模塊）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N Z軸（SF / EO模塊）：4.90 N Z軸（LF模塊）：1.60 N | XY平面（SF / EO模塊）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N Z軸（SF / EO模塊）：4.90 N Z軸（LF模塊）：1.60 N |
重量（測頭傳感器和模塊） | 22 g | 22 g |
*長加長桿（如配在PH10 PLUS系列測座上） | 300 mm | 300 mm |
*的*大測針長度（M2測針系列） | SF / EO模塊：50 mm鋼質至100 mm GF LF模塊：20 mm鋼質至50 mm GF | SF / EO模塊：50 mm鋼質至100 mm GF LF模塊：20 mm鋼質至50 mm GF |
安裝方式 | M8螺紋 | M8螺紋 |
適合的接口 | PI 200-3、UCC | PI 200-3、UCC |
測針模塊交換架 | 自動：SCR200 手動：MSR1 | 自動：SCR200 手動：MSR1 |
測針系列 | M2 | M2 |
TP200測針模塊:
測針模塊通過高重復性機械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測頭本體上，具有快速測針交換功能和測頭越程保護功能。
有三種測針模塊可供選擇，具有兩種不同的越程測力。
模塊 | SF（標準測力） | LF（低測力） | EO（長越程） |
|---|---|---|---|
應用 | 一般使用。 | 小直徑測球或必須使用小測力的場合。 | 額外越程使坐標測量機在較高的碰觸速度下安全停止并回退。 |
說明 | 測針*長可達100 mm，測球直徑 > 1 mm。 | 測球直徑小于1 mm。 | 與SF的越程測力相同。 測頭Z軸的額外越程為8 mm。 |
SCR200交換架:
SCR200可以高速自動交換多達六個TP200測針模塊。SCR200由獨自的測頭接口 — PI 200-3供電，并可確保安全的測針交換。SCR200套件可包含低測力和標準測力組件，每一種套件都包含一個SCR200加上三個測力相同的測針模塊。
