P63.Z一維Z向壓電納米定位臺(tái) 6.8μm價(jià)格 P63.Z直驅(qū)壓電平移臺(tái),是一維Z軸運(yùn)動(dòng)壓電定位臺(tái),采用壓電陶瓷直驅(qū)機(jī)構(gòu)的設(shè)計(jì)原理,具有體積小、無摩擦、響應(yīng)速度快等特點(diǎn),配置高精度傳感器,可以實(shí)現(xiàn)納米級(jí)分辨率、定位精度具有較高的可靠性,壓電平移臺(tái)在精密定位領(lǐng)域中發(fā)揮著重要的作用。
特性 P63.Z一維Z向壓電納米定位臺(tái) 6.8μm價(jià)格
• 1~3維自由組合 • 位移行程6.8μm • 亞毫秒響應(yīng)時(shí)間 • 承載0.8kg • 重復(fù)定位精度可達(dá)納米級(jí)
小體積、高精度、響應(yīng)速度快 | 傳感器類型 | 頻率負(fù)載曲線 | |
P63系列壓電納米定位臺(tái)重要的特點(diǎn)是精密且體積小巧,P63.Z一維的尺寸僅為30×30×24mm(X軸尺寸為30×30×21mm),易于集成到任何掃描儀器中。 P63系列納米定位臺(tái)是高精密納米定位系統(tǒng),是為AFM、SPM、STM等顯微掃描納米操作等應(yīng)用而設(shè)計(jì)的,具有低慣性,響應(yīng)時(shí)間可達(dá)0.3ms,可配置高精度閉環(huán)傳感器進(jìn)行高分辨率高速掃描。 |
應(yīng)用 • 光纖端面檢測(cè) • 納米壓印 • 納米計(jì)量 •微操控 • 納米光刻 •干涉法/ 掃描顯微/納米定位 •生物技術(shù)/半導(dǎo)體技術(shù) •質(zhì)量保證測(cè)試 •微加工/精密控制 應(yīng)用實(shí)例:納米切削 P63三維納米定位臺(tái)已經(jīng)應(yīng)用于基于SEM在線納米切削平臺(tái)切削力測(cè)試實(shí)驗(yàn)中。 |